Патенты автора Левин Геннадий Генрихович (RU)
Изобретение относится к области биотехнологии. Предложен способ определения координат изменения структуры клетки по фазовым изображениям при модуляции фазы волнового фронта. Способ включает деление проходящего через клетку излучения на несколько пучков, выбор на полученном под совпадающим с оптической осью в первый момент времени углом фазовом изображении точки с координатами (x1,y1) на поверхности клетки, где определяют изменение структуры клетки, выбор на полученных под другими углами фазовых изображениях значений фазы с координатами (x1sinϕ+zcosϕ,y1), их суммирование для получения зависящей от координаты z вдоль оптической оси функции, вычисление суммы фаз с теми же координатами в другой момент времени, получение такой же функции, значения координаты z, при которой достигается глобальный экстремум разности этих двух функций, и определение координаты z1 внутри клетки, где происходит изменение структуры клетки, причем за искомое значение координат изменения структуры клетки принимают (x1,y1,z1). Изобретение обеспечивает определение изменения положения мембраны и внутренней структуры внутри клетки. 3 ил., 1 табл.
Изобретение относится к области интерферометрии фазовых динамических объектов. Способ определения частоты и амплитуды модуляции фазы волнового фронта, создаваемого колебаниями мембраны клетки, включает разделение излучения когерентного источника на два пучка, один из которых проходит через исследуемый объект и отображается на регистраторе, а второй проходит по опорному каналу и также попадает на регистратор, где оба пучка интерферируют, и по изменению интерференционной картины судят об изменениях фазы волнового фронта. Опорный канал интерферометра в процессе регистрации интерферограммы настраивают таким образом, чтобы значение разности фаз в выбранной области было равно нулю. Часть волнового фронта, прошедшего через исследуемую клетку, направляют оптической системой на фазовый модулятор. Посредством фазового модулятора модулируют прошедшее излучение с частотой ω1 и глубиной модуляции m1, затем изображение модулятора проецируют оптической системой на регистратор, при этом для компенсации смещения фазы, вызванного внешними вибрациями, выделяют часть волнового фронта, не прошедшую через объект, и направляют ее той же оптической системой на фазовый модулятор, который модулирует эту часть волнового фронта частотой ω2 и глубиной модуляции m2. Затем изображение этой части фазового модулятора проецируют на регистратор, полученные два электрических сигнала перемножаются, и результирующий сигнал подвергают спектральному анализу, при этом из спектра сигнала выделяют частоту, равную разности частот модуляции оптического излучения, прошедшего через объект, и оптического излучения, не прошедшего через объект, и вблизи этой частоты ищут симметричную пару частот с противоположным значением фазы, по частотным координатам которых определяют частоту, а по величине – амплитуду модуляции фазы волнового фронта в выбранной области клетки. Технический результат заключается в обеспечении возможности повышения точности измерений частоты и амплитуды мембранных колебаний клетки. 2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для трехмерного анализа показателя преломления материала с помощью оптических средств на основе интерферометрии, и может быть использовано для томографического контроля образцов оптических изделий: оптических волокон и их заготовок, градиентных линз, различных изделий оптики и микроэлектроники в том числе полученных методом аддитивных технологий из полимерных и прочих прозрачных материалов. Устройство измерения распределения показателя преломления прозрачных образцов содержит источник когерентного освещения, интерферометр Маха-Цендера, систему регистрации и блок установки тестового образца. Интерферометр снабжен входным фазосдвигающим блоком и светоделителем, формирующим опорный и измерительный каналы. Блок установки тестового образца расположен в измерительном канале и содержит кювету с иммерсионной жидкостью и поворотным устройством. Устройство также снабжено аналогичным блоком установки эталонного образца, расположенным в опорном канале и содержащим кювету с иммерсионной жидкостью и поворотным устройством. Изобретение позволяет увеличить точность и диапазон измерений. 3 з.п. ф-лы, 3 ил.
Изобретение относится к установкам для производства оптических микрорезонаторов. Техническим результатом является повышение качества микрорезонаторов. Установка для производства оптических микрорезонаторов содержит механическую подвижку с держателем заготовки оптического волокна и устройство нагрева ее свободного конца. Устройство нагрева выполнено в виде газовой горелки, снабженной по меньшей мере двумя соплами. Указанные сопла направлены под острым углом к оси установленной в держателе заготовки в сторону ее свободного конца. 6 з.п. ф-лы, 4 ил.
Изобретение относится к области оптико-электронных измерительных приборов и предназначено для получения информации о двумерном распределении высот микрорельефа поверхностей, которые применяются в оптическом приборостроении, микроэлектронике и материаловедении. Установка для измерения микрорельефа поверхности с использованием метода фазовых шагов содержит виброзащитную опору, предметный столик, осветитель с коллиматором, цифровую видеокамеру и интерференционный микроскоп, выполненный по схеме Линника. Устройство снабжено сменными микрообъективами. Предметный столик выполнен подвижным и расположен под микрообъективом объектного канала. Осветитель выполнен в виде точечного низкокогерентного светодиода. Опорное зеркало референтного канала выполнено на базе моноатомного слоя кремния. Опорное зеркало жестко связано с микрообъективом референтного канала в едином блоке, который перемещается посредством пьезопривода с обратной связью. Настройка микроскопа производится по базовой плоскости. Технический результат – возможность получения значения высоты профиля и шероховатости профиля в субнанометровом диапазоне с большей точностью, а также расширение диапазона измерений и повышение стабильности показаний при длительных измерениях. 4 ил.
Изобретение относится к средствам метрологического обеспечения устройств для определения внутриглазного давления и может быть использовано для поверки/калибровки контактных тонометров. При осуществлении способа используют систему баланса в виде жестко закрепленных на единой оси вращения одинаковых плеч. На одном из плеч установлено контактное колесико, а на другом - нулевая отметка. Последовательно уравновешивают в исходном положении систему, располагают нажимную часть тонометра вплотную к контактному колесику, выводят систему баланса из равновесия путем установки на свободном плече груза известной массы и вновь уравновешивают систему баланса путем изменения силы нажатия тонометра. После этого проводят поверку/калибровку тонометра путем сопоставления показаний тонометра и веса груза. Уравновешенность системы баланса идентифицируют путем получения изображения нулевой отметки в виде QR-кода с помощью видеокамеры и расчета коэффициента корреляции между изображениями, соответствующими ее текущему и исходному положениям. Изобретение позволяет повысить точность поверки/калибровки за счет повышения чувствительности к выведению системы баланса из состояния уравновешенности. 3 ил.
Установка для вытяжения оптоволокна // 2645040
Изобретение относится к установке для вытяжения оптоволокна. Техническим результатом является уменьшение количества брака. Установка для вытяжения оптоволокна, содержащая общее основание, на котором установлены две подвижные опоры с зажимами для фиксации вытягиваемого участка оптоволокна, расположенную между ними газовую горелку с системой позиционирования и датчиком температуры, а также систему контроля вытяжения. Зажим по меньшей мере одной из опор консольно установлен на тензометрическом датчике, жестко закрепленном на этой опоре и обеспечивающем возможность измерения натяжения оптоволокна. Система контроля вытяжения содержит блок управления, соединенный с подвижными опорами и тензометрическим датчиком. 1 ил.
ФАЗОВО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МОДУЛЬ // 2539747
Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, оптическом приборостроении. Техническая задача, решаемая настоящим изобретением, состоит в уменьшении фазовых искажений, повышении линейности фазового сдвига и повышении точности измерений. Фазово-интерференционный модуль содержит микроскоп для формирования увеличенного изображения микрообъекта в задней фокальной плоскости этого микроскопа, 4f оптическую систему из двух фурье-объективов, передняя фокальная плоскость которой совпадает с задней фокальной плоскостью микроскопа. В задней фокальной плоскости 4f оптической системы располагается регистратор выходного изображения. Внутри 4f оптической системы до общей фокальной плоскости располагается светоделитель. В общей фокальной плоскости 4f оптической системы размещен фазовый пространственный фильтр Цернике, работающий на отражение, выполненный в виде плоского зеркала, состоящего из неподвижной плоской зеркальной детали с узким отверстием в центре и подвижной плоской зеркальной детали, установленной в этом отверстии с возможностью перемещения в направлении нормали к поверхности неподвижной детали. Центр подвижной плоской зеркальной детали совпадает с оптической осью 4f оптической системы. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ // 2536764
Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, машиностроении, оптическом приборостроении для исследования фазовых объектов. Технический результат - уменьшение уровня когерентных шумов, снижение требований к юстировке интерферометра, повышение стабильности результатов измерений, повышение точности измерений. Согласно способу интерференционной микроскопии исследуемый микрообъект освещают некогерентным излучением, которое используют для формирования увеличенного изображения микрообъекта в передней фокальной плоскости 4f оптической системы, делят излучение с помощью светоделителя из двух идентичных призм Дове, склеенных по основаниям призм, и направляют оба пучка на одно плоское зеркало. Пучок, который прошел через обе призмы Дове, пропускают через точечную диафрагму. После обратного прохода через светоделитель оба пучка излучения направляют на уголковый отражатель и регистрируют исходное интерференционное изображение, а затем многократно смещают светоделитель и уголковый отражатель вдоль направления, перпендикулярного основаниям призм. При этом изменяется фаза интерференционных изображений по отношению к исходному и регистрируется набор интерференционных изображений, по которому методом фазовых шагов вычисляют двумерное распределение оптической разности хода излучения, прошедшего через микрообъект. 2 з.п. ф-лы, 6 ил.
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП // 2527316
Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, машиностроении, оптическом приборостроении. Интерференционный микроскоп содержит микроскоп светлого поля для формирования увеличенного изображения объекта в задней фокальной плоскости, 4f оптическую систему из двух фурье-объективов, передняя фокальная плоскость которой совпадает с задней фокальной плоскостью микроскопа светлого поля. В задней фокальной плоскости 4f оптической системы располагается регистратор выходного изображения. Внутри 4f оптической системы до общей фокальной плоскости располагается светоделитель, формирующий два пространственно разделенных световых пучка, сходящихся в общей фокальной плоскости 4f оптической системы, где размещены два плоских зеркала перпендикулярно оптической оси каждого из пучков. Эти зеркала отражают падающее на них излучение в обратном направлении, а перед одним из зеркал располагается точечная диафрагма, которая пропускает только нерассеяное излучение и формирует опорный пучок. Светоделитель формирует два параллельных пространственно разделенных световых пучка с нулевой разностью хода, а отражающие поверхности плоских зеркал лежат в одной плоскости. Технический результат - повышение точности измерений. 5 з.п. ф-лы, 5 ил.
Изобретение относится к области измерений неоднородностей поверхностей гетероструктур
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к профилометрии, топографии
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к профилометрии, топографии
