Патенты автора ВАН-ДИК Эмманюэль Густав (US)
Изобретение относится к селективно отражающей структуре с регулируемым отражением и пропусканием в видимой, дальней ИК-области, средневолновой ИК-области, ближней ИК-области и радиолокационной областях ЭМ спектра
