Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в процессе подгонки, выходного и входного контроля параметров элементов сложных электрических цепей, например резистивных делителей напряжения, резисторно-конденсаторных сборок, диодных матриц, широко используемых в измерительной и вычислительной технике, автоматике