Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к устройствам контроля и исследования электрофизических параметров полупроводниковых структур
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться при построении систем сбора и обработки информации, представленной массивами чисел, например, в цифровых устройствах обработки изображений