Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для неразрушающего вихретокового контроля параметров ферромагнитных и электропроводных материалов, для измерения магнитной проницаемости, электропроводности, а также твердости и других параметров, в том числе и для контроля толщины изоляционных покрытий на движущихся проводниках