Патенты автора ЯВНОВ ГЕННАДИЙ НИКОЛАЕВИЧ

Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта // 1628071

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в системах технического зрения для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1499195

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1460610

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур // 1381731

Изобретение относится к технике ТВ и повышает точность путем обеспечения инвариантности к смещению планарной структуры в поле зрения ТВ- датчика (ТВД)

Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры // 1339593

Изобретение относится к аналоговой вычислительной технике

Устройство для выделения информативных элементов контура изображения // 1297086

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для выделения информативных участков в контурах изображений

Устройство для контроля дефектов фотошаблона // 1233107

Изобретение относится к исследованиям и анализу физических свойств материалов с помощью оптических методов , а именно путем исследования цвета или поглощения световых лучей при помощи электрических средств обнар океиия локальных дефектов, Цель изобретения - новышение достоверности контроля дефектов фотошаблона, которая достигается введением новых блоков и функциональных связей, позволяющих автоматически контролировать форму плапарных структур

Устройство для контроля планарных структур // 1167620

Способ подгонки симметричных интегральных схем // 911633

Устройство для контроля печатных плат // 911375