Патенты автора БАКЕРКИН АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ

Интерферометр для контроля формы поверхности // 1755042

Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано при контроле оптических деталей с параболическими поверхностями и позволяет повысить точность и производительность контроля параболических поверхностей

Интерферометр для контроля формы поверхности // 1755041

Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано при контроле оптических деталей с эллиптическими и гиперболическими поверхностями и позволяет повысить точность и производительность контроля эллиптических и гиперболических поверхностей

Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали // 1747882

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, например, при измерении больших по величине (свыше 1000 мм) радиусов кривизны высокоточных оптических деталей, в том числе и пробных стекол

Способ контроля вогнутых эллиптических поверхностей // 1716318

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля оптических деталей с вогнутыми эллиптическими поверхностями

Способ измерения децентрировки оптических деталей и устройство для его осуществления // 1672206

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в оптическом производстве при изготовлении оптических деталей для проверки центровки их поверхностей на этапе технологического и аттестационного контроля

Прибор для определения погрешностей изготовления прямых двугранных углов и устройство для установки в приборе нулевого отсчета // 1672205

Изобретение относится к измерительной технике и используется при контроле оптических деталей

Интерферометр бокового сдвига // 1536195

Изобретение относится к измерительной и может бить использонлно ч ч чторных , нлучноис следователе их и пропзводственных условияли контроля формы волнового фронт т, сочдтяаемо о оптическими г 1ч

Станок для обработки параболических поверхностей // 1509231

Изобретение относится к абразивной обработке и может быть использовано при шлифовании и полировании асферических поверхностей оптических деталей

Способ определения фокусного расстояния оптической системы // 1493904

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при определении фокусных расстояний оптических элементов

Способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей оптических деталей // 1460600

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле высокоточных оптических деталей, например пробньлс стекол

Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали // 1449842

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , например, при измерении больших по величине радиусов кривизны высокоточных особочистых поверхностей оптических деталей

Уголковый отражатель // 1439516

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в высокоточных оптических измерительных устройствах

Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали // 1379615

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , например, при измерении больших по величине радиусов кривизны вы5 / сокоточных особо чистых поверхностей оптических деталей

Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали // 1293484

Изобретение относится к измерительной технике

Уголковый отражатель // 1278764

Изобретение относится к оптичecкo fy приборостроению и позволяет уменьшить габариты и массу устройства

Устройство для измерения фокальных отрезков оптических деталей // 1267192

Изобретение относится к измерительной технике

Способ получения глухих отверстий в хрупком силикатном материале // 1172734

Способ обработки оптических поверхностей // 1161347

Устройство для обработки оптических деталей // 1121128

Автоколлимационное теневое устройство для контроля формы поверхностей оптических деталей // 977946