Патенты автора СЕРГЕЙЧУК ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретение относится к вычислительной технике
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для обработки измерения параметров и калибровки линейных .неоднородных материалов с заданной точностью , например для измерения удельного сопротивления и калибровки полупровод:никовь1х монокристаллов
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для поиска на полупроводниковом монокристалле точек, характеризующих-
Вычислительный прибор // 1166140
Вычислительный прибор // 1095192
