Патенты автора АРХИПОВ ИВАН ПЕТРОВИЧ

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества полупроводниковых приборов (ПП) и интегральных микросхем (ИМС) и может-быть использовано для отбраковки ПП и ИМС со скрытыми дефектами

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в системах диагностики

 


Наверх