Патенты автора СУДЬЕНКОВ ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

Способ определения порога разрушения поверхности оптических изделий // 1762194

Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре // 1490463

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в двухлучевых интерферометрах для регистрации механических быстропротекающих процессов

Способ определения качества поверхностей оптических изделий // 1455292

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения качества поверхностей оптических изделий с помощью упругих колебаний, возбуждаеь 1х оптическим излучением

Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре // 1399644

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в устройствах для регистрации быстропротекающи.х процессов

Устройство для определения релаксации жесткости твердых сред // 1328705

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к устройствам для определения релаксации жесткости твердых сред

Устройство для динамических испытаний материалов // 1114920

Способ ультразвуковой дефектоскопии // 1084672