Патенты автора РАНДОШКИН ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретение относится к области получения; монокристаллов и эпитаксиальных пленок и может быть использовано при разработке технологии получения новых материалов методом жидкофазной эпитаксии, а также в научных исследованиях
Изобретение относится к вычислительной технике и оптоэлектронике и может быть использовано при измерении динамических параметров магнитоодноосных пленок , применяемых в запоминающих устройствах на цилиндрических магнитных доменах, магнитооптических управляемых транспарантах, модуляторах, переключателях , дефлекторах и т.п
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для аттестации магнитных пленок, предназначенных для использования в магнитооптических устройствах обработки и хранения информации
Изобретение относится к области магнитооптики и может найти применение при изготовлении оптических изоляторов
Изобретение относится к технологии выращивания пленок феррит-гранатов и может быть использовано в производстве магнитооптических изделий на их основе
Изобретение относится к оптоэлектроникё и вычислительной технике и может быть использовано в волоконно-оптических линиях связи и интегрально-оптических устройствах для управления и концентрации светового излучения
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в магнитооптических управляемых транспарантах
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при создании магнитооптических устройств обработки и хранения информации
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении тонкопленочных носителей информации
Изобретение относится к накоплению информации и может найти применение для магнитно оптической воспроизведения с носителя магнитной записи
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при разработке запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД)
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при калибровке источников магнитного поля, применяемых при измерении динамических параметров доменосодержащих магнитных пленок
Изобретение относится к технологии электронного приборостроения и может быть использовано при производстве носителей информации для запоминающих устройств
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при разработке магнитооптических устройств хранения и обработки информации
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении ЗУ на ЦМД на основе ионно-имплантированных монокристаллических пленок феррит-гранатов
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при выборе носителей информации для быстродействующих магнитооптических управляемых транспортеров
Изобретение относится к вычислительной технике и оптоэлектронике и может быть использовано в быстродействующих магнитооптических транспарантах
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при контроле носителей информации для быстродействующих магнитооптических управляемых транспарантов, при обработке технологии получения эпитаксиальных пленок и в научных исследованиях
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при разработке магнитооптических управляемых транспарантов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для калибровки электромагнитов в областях микронных размеров
Изобретение относится к области вычислительной технике и может быть использовано при построении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при разработке магнитооптических управляемых транспортеров
Изобретение относится к микроэлектронике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля параметров доменосодержащих пленок
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при разработке магнитооптических управляемых транспарантов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении локального распределения температуры в микрообъектах
Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть исгюльзова но при разработке аппаратуры для неразрушаюшего контроля качества доменосодержащих материалов
Изобретение относится к магнитной записи и позволяет повысить быстродействие регистрации информации