FindPatent.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора АЛЬПЕРОВИЧ ЛЕВ ИСАКОВИЧ
Способ измерения толщины тонких пленок,нанесенных на подложку
// 1280311
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины пленок, прозрачных в ИК-области спектра и нанесенных на плоские йодложки
Устройство для измерения сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении
// 1163161