Изобретение относится к электроизмерительной технике и может найти применение при научных исследованиях в технической диагностике и в промышленных измерительно-вычислительных комплексах для испытания полупроводниковых приборов
Изобретение относится к электро-; технике, в частности к полупроводниковой технике, и может быть использовано при защите от вторичного пробоя выходного силового транзистора, включенного по схеме с общим эмиттером и работающего в импульсном режиме