Патенты автора ШИЛЬШТЕЙН САНА ШАЕВИЧ
Способ получения теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучения // 1402871
Изобретение относится к радиационным методам изучения внутренней структуры объектов
Нейтронный дифрактометр // 1293594
Изобретение относится к устройствам , предназначенным для исследования структуры веществ в конденсированном состоянии с помощью дифракции медленных нейтронов
