Патенты автора ШИЛЬШТЕЙН САНА ШАЕВИЧ

Изобретение относится к радиационным методам изучения внутренней структуры объектов

Изобретение относится к устройствам , предназначенным для исследования структуры веществ в конденсированном состоянии с помощью дифракции медленных нейтронов
Мы будем признательны, если вы окажете нашему проекту финансовую поддержку!

 


Наверх