Патенты автора Чепиков Всеволод Николаевич (RU)
Изобретение относится к технологии производства высокотемпературных сверхпроводящих лент (далее - ВТСП лент) второго поколения, а именно к диагностике качества ВТСП лент и поиску дефектных транспортирующих и измерительных роликов в процессе их производства путем анализа измеряемых характеристик. Способ диагностики транспортирующих и измерительных роликов, используемых в процессе производства ВТСП ленты, получаемой в несколько технологических стадий с ее перемещением в процессе получения при помощи транспортирующих роликов и контролем параметров процесса измерительными роликами, предусматривает проведение каждой стадии с использованием группы транспортирующих роликов одного и того же диаметра D и группы измерительных роликов одного и того же диаметра d, причем диаметр транспортирующих роликов, по меньшей мере, одной группы отличается от диаметров транспортирующих роликов остальных групп. Предложенный способ позволяет быстро и с большой достоверностью выявить дефектные транспортирующие ролики, в том числе непосредственно в процессе производства ВТСП ленты, а следовательно, принять оперативные меры к замене роликов и получению качественной ВТСП ленты. 4 з.п. ф-лы, 2 ил.
СПОСОБ ГРАВИМЕТРИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СВЕРХПРОВОДЯЩЕГО СЛОЯ ВТСП ПРОВОДОВ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ // 2687312
Использование: для высокоточного определения толщины сверхпроводящего слоя на ВТСП проводах второго поколения. Сущность изобретения заключается в том, что способ гравиметрического определения толщины сверхпроводящего слоя ВТСП проводов второго поколения включает следующие стадии: (А) изготовление эталонного образца из ВТСП провода, содержащего подложку, нанесенный на подложку по меньшей мере один буферный слой и нанесенный на буферный сверхпроводящий слой, где длина образца соответствует длине провода, при которой масса сверхпроводящего слоя составляет не менее 50 мг; (Б) измерение длины, ширины и массы эталонного образца; (В) растворение сверхпроводящего слоя эталонного образца в травильном растворе, не взаимодействующем с материалом буферного слоя, промывку упомянутого образца, сушку и измерение массы образца без сверхпроводящего слоя; (Г) определение толщины сверхпроводящего слоя образца с учетом растворенной массы. Технический результат: обеспечение возможности точного определения средней величины толщины слоя ВТСП на длинномерных образцах. 6 з.п. ф-лы, 2 ил., 3 табл.
Изобретение относится к технологии изготовления тонкопленочных высокотемпературных сверхпроводящих материалов и может быть использовано при промышленном производстве длинномерных сверхпроводящих лент для создания токопроводящих кабелей, токоограничителей, обмоток мощных электромагнитов, электродвигателей и т.д
