Патенты автора Покровский Алексей Дмитриевич (RU)
СПОСОБ НАСТРОЙКИ ВИХРЕТОКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА // 2548384
Изобретение относится к измерительной техники, конкретно к способам неразрушающего контроля, и позволяет повысить точность определения параметров дефектов. Снимают годографы влияния зазора между преобразователем и объектом контроля на сигнал на бездефектном участке настроечного образца и на участке этого образца с калибровочным дефектом известной величины. Годографы представлены на комплексной плоскости вносимых напряжений Im (Uвн) и Re (Uвн). Кривая 1 - годограф влияния зазора над бездефектным участком настроечного образца. Точка А соответствует положению преобразователя непосредственно на настроечном образце, а точка Н - на расстоянии, где влиянием настроечного образца можно пренебречь. Кривая 2 - годограф влияния зазора на участке настроечного образца с калибровочным дефектом известной величины. Снимают годограф влияния зазора на сигнал на бездефектном участке объекта контроля, показанный кривой 3. Если между направлениями годографов 1 и 3 угол составляет величину Ф, то изменяют фазу тока возбуждения на этот угол Ф так, чтобы годографы влияния зазора на бездефектных участках настроечного образца и объекта контроля совпали и потом осуществляют контроль объекта. 1 ил.
Изобретение относится к неразрушающему контролю методом вихревых токов и может быть использовано для дефектоскопии и контроля электрических, магнитных и геометрических свойств объектов из электропроводящих материалов
