Патенты автора Куревин Валерий Валерьевич (RU)
Изобретение относится к области оптических измерений, в частности к способам и устройствам для определения центральной частоты симметричной оптической структуры. При реализации способов определения центральной частоты симметричной оптической структуры генерируют одночастотное зондирующее излучение, преобразуют его в двухчастотное, подают его на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры. Далее перестраивают частоту зондирующего излучения в диапазоне измерений, лежащую в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, регистрируют изменения его параметров, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры. При этом при реализации способа по первому варианту разностную частоту выбирают не превышающей полуширины склонов симметричной оптической структуры. В ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают первое значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m1 и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP1. Далее в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают второе значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m2=m1 и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP2. После чего вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры по формуле fЦ = (fCP1 + fCP2)/2. При реализации способа по второму варианту в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения регистрируют данные двух соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m3<1, а во втором m=m4=1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP4 для второго из них. Далее в ходе перестройки регистрируют данные двух других соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m5=1, а во втором m=m6<1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP5 для первого из них, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как fЦ = (fCP4 + fCP5)/2. Устройство для определения центральной частоты симметричной оптической структуры состоит из последовательно соединенных перестраиваемого по частоте источника одночастотного оптического излучения, преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное, циркулятора, первого волоконно-оптического кабеля, один конец которого соединен с первым выходом циркулятора, а второй конец - с входом симметричной оптической структуры, второго волоконно-оптического кабеля, один конец которого соединен с выходом симметричной оптической структуры, а второй конец - со вторым входом циркулятора, детектора, перестраиваемого фильтра разностной частоты, а также контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур. Причем перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, перестраиваемый фильтр разностной частоты и контроллер управления и измерения центральной частоты имеют входы/выходы управления, объединенные в шину управления. Технический результат изобретения заключается в повышении точности определения центральной частоты как узкополосной, так и широкополосной симметричной оптической структуры. 3 н.п. ф-лы, 4 ил.
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ФИЗИЧЕСКИХ ПОЛЕЙ // 2491511
Изобретение относится к оптической измерительной технике и может быть использовано для измерения параметров физических полей
