Патенты автора НАБС Давид (DE)

Изобретение относится к устройствам трехмерного обмера объектов при помощи топометрического способа измерения. Устройство для трехмерного обмера объекта включает первое проекционное устройство, содержащее первый источник инфракрасного излучения для проецирования на объект подвижного первого узора, причем проецируемый узор проявляется на объекте в виде распределения нагревания; по меньшей мере одно съемочное устройство для съемки изображений распределения нагревания, проявляющееся на объекте, в инфракрасной области спектра; а также анализирующее устройство для анализа изображений, снятых съемочным устройством, и определения формы поверхности объекта. Способ трехмерного обмера объекта включает проецирование первого инфракрасного узора на объект при помощи первого проекционного устройства; съемку изображений распределения нагревания объекта при помощи по меньшей мере одного съемочного устройства, чувствительного к инфракрасному излучению, при этом узор между снимками смещают; анализ изображений при помощи топометрического способа анализа и определение формы поверхности объекта. Технический результат заключается в обеспечении возможности увеличения контраста проецируемого узора на прозрачных для видимого света или сильно отражающих свет объектах. 2 н. и 12 з.п. ф-лы, 2 ил.

 


Наверх