Патенты автора Таланин Евгений Александрович (RU)

Изобретение относится к аппаратным методам исследования объектов, невидимых невооруженным глазом, выполняемых на основе исследования световых волн, взаимодействующих с микрообъектами. На исследуемом объекте выбирают область сканирования, внутри которой формируют область со стандартными однородными оптическими свойствами, многократно сканируют точки выбранной области сканирования лазерным лучом, каждый раз перемещая начало сканирования на расстояние не более требуемой разрешающей способности, с одновременной регистрацией и сохранением информации об оптических характеристиках увеличенного изображения точек области сканирования и координатах точек области сканирования. Восстанавливают изображение исследуемого объекта на основе использования информации об оптических характеристиках точек области со стандартными однородными оптическими свойствами и информации об оптических свойствах других точек области сканирования. Перемещение начала сканирования осуществляют на расстояние от 0,5 нм до 1000 нм. Изобретение обеспечивает повышение разрешающей способности - возможности исследования объектов с разрешением от 1 нм и более. 1 з.п. ф-лы, 6 ил.

 


Наверх