Патенты автора Бородин Владимир Алексеевич (RU)

Изобретение относится к области твердотельной дозиметрии ионизирующих излучений. Способ получения профилированных анион-дефектных монокристаллов оксида алюминия для импульсной оптически стимулированной люминесцентной дозиметрии ионизирующих излучений дополнительно содержит этапы, на которых выращивают одновременно по 10-30 стержней монокристаллического оксида алюминия цилиндрической формы диаметром 5 мм и длиной 150-300 мм, после расплавления исходного сырья, проводят выдержку расплава в течение 10-25 минут, а выращивание ведут с переменной скоростью от 0,8 мм/мин в начале роста и 1,5 мм/мин в конце роста, в качестве исходного сырья для роста кристаллов используют порошок оксида алюминия с суммарным содержанием основных примесей: Si, Fe, Ni, Cr, Mg, Ti, не более 5·10-5 мас.%. Технический результат – повышение точности, надежности и достоверности дозиметрических измерений. 9 ил.

Изобретение относится к аддитивным технологиям, позволяющим осуществлять послойную кристаллизацию трехмерных объектов заданной формы по CAD-модели из конгруэнтно плавящихся материалов, например металлов, сплавов, тугоплавких оксидов, в том числе и эвтектических композиционных материалов. В предлагаемом способе получения трехмерных изделий послойной кристаллизацией согласно CAD-модели, включающем подачу на базовую платформу из питателя исходного материала с энергетическим воздействием на исходный материал для его плавления, и перемещение по заданной траектории в трехмерном пространстве базовой платформы и питателя относительно друг друга, и кристаллизацию расплавленного материала на ранее закристаллизованном слое. При этом плавление исходного материала осуществляют непосредственно в питателе, создают слой расплава между ранее закристаллизованным слоем и питателем, форму поперечного сечения слоя расплава задают по линии раздела питатель - слой расплава - окружающая атмосфера, и в ходе послойной кристаллизации поддерживают сохранение слоя расплава путем регулирования мощности энергетического воздействия и скорости перемещения базовой платформы и питателя относительно друг друга, а также путем регулировки разницы давления газа над поверхностью расплава в питателе и над поверхностью слоя расплава между ранее закристаллизованным слоем и питателем. Технический результат – обеспечение возможности синтеза исходного материала непосредственно в питателе сплавлением исходных компонентов в виде кусков, слитков, дробленых кусочков. 12 ил.

Изобретение относится к области автоматизации управления технологическими процессами при выращивании кристаллов сапфира из расплава методом Киропулоса. Способ включает динамическое измерение веса выращиваемого кристалла и автоматическое регулирование мощности нагревателя, при этом вычисляют производную по времени измеренного веса, вычисляют ее рассогласование с опорным значением производной веса, задаваемым согласно функции от времени на основе данных, полученных экспериментально, или модели массопереноса процесса роста, входящими данными которой являются линейная скорость кристаллизации, форма фронта кристаллизации, геометрические размеры тигля, масса загрузки тигля шихтой, диаметр затравочного кристалла, плотности кристалла и расплава, коэффициент поверхностного натяжения расплава, угол роста кристалла, а выходными данными - форма выращиваемого кристалла и соответствующее ей опорное значение, формируют основной сигнал управления по каналу мощности нагревателя с применением регулятора с зоной нечувствительности, а дополнительное управление по каналу скорости вытягивания осуществляют при условии превышения рассогласования заранее установленного порогового значения. Техническим результатом изобретения является значительное улучшение качества монокристалла и увеличение количества годных изделий. 2 з.п. ф-лы, 6 ил.

Использование: для рентгеновской томографии. Сущность способа: заключается в том, что облучают и воспринимают массив изображения энергетического спектра рентгеновского излучения, проходящего через объект, при этом восстанавливают изображения по теневым проекциям объекта, затем формируют, сравнивают и анализируют текущие и эталонные интегральные характеристики изображения объекта, определяют дефекты объекта и отображают результаты анализа объекта. Способ отличается тем, что восстановление трехмерного изображения осуществляют при вращении и смещении объекта по трем взаимно перпендикулярным осям системы координат, связанной с рабочей зоной объекта при корректировке управления последней, а текущие и эталонные интегральные характеристики изображения объекта формируют в виде спектральных и фрактальных признаков. Технический результат: повышение точности оценки внутренней структуры объекта, быстродействия, расширение функциональных возможностей (расширение класса диагностируемых объектов) и снижение опасности применения для обслуживающего персонала из-за значительного рентгеновского облучения. 2 н. и 14 з.п. ф-лы, 17 ил.

 


Наверх