Патенты автора Кофнов Олег Владимирович (RU)
Дифракционный способ определения внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии // 2658098
Изобретение относится к неразрушающим способам обнаружения дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии из неметаллических материалов, прозрачных для электромагнитных волн с длинами 10-4 до 10-3 метра, и может быть использовано для автоматического обнаружения скрытых дефектов структуры. Способ включает обнаружение дефектов изготовления материала, таких как трещины, пустоты, полости, поры, соизмеримых по величине с длиной монохромной волны, проходящей через исследуемый материал. При взаимодействии электромагнитной волны с дефектом возникает эффект дифракции. Дифракционная картина проецируется на экран, находящийся за исследуемым объектом и состоящий из болометрических ячеек, чувствительных к терагерцевому излучению. Дифракционная картина считывается с экрана и преобразуется в компьютерное изображение, пригодное для последующего анализа. Техническим результатом изобретения является упрощение процедуры фиксации присутствия дефекта и его безопасность по сравнению с аналогичными методами рентгеновской томографии за счет использования неионизирующего излучения. 3 ил.
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛА КРУТКИ НИТИ // 2534720
Изобретение относится к неразрушающим способам измерения угла, крутки нити. В способе производят анализ угловой диаграммы распределения светового потока в дифракционной картине, наблюдаемой от исследуемого материала при освещении поверхности нити параллельным пучком монохроматического когерентного света с круговым сечением, причем о величине искомого угла крутки судят по углу, измеренному между направлением на максимум в угловой диаграмме светового потока в дифракционной картине, и перпендикуляром к нити, проведенном в плоскости картины из ее центра. Причем исследуют компьютерное микроизображение исследуемой нити, дифракционную картину от которого для такого освещения рассчитывают с помощью быстрого двумерного Фурье-преобразования, а об угловой диаграмме распределения светового потока в дифракционной картине судят по диаграмме углового распределения средней суммарной интенсивности засветки пикселей которую рассчитывают в кольце, задаваемом радиусами R1 и R2 относительно центра дифракционной картины в полярной системе координат для каждого значения угла φ в диапазоне значений 0-2π; по формуле
где ΔS - площадь сектора кольца, ограниченного углом Δφ; в числителе стоит сумма интенсивностей пикселей изображения ip, попавших в выделенный сектор ΔS; N - число пикселей в ΔS. Технический результат - повышение точности измерения за счет уменьшения погрешности измерения, при одновременном упрощении процесса измерения. 4 ил.
Изобретение может быть использовано для измерения основных технологических структурных параметров, связанных с периодичностью структуры текстильных материалов, при текущем автоматическом контроле. Способ заключается в том, что по компьютерному оптическому изображению поверхности исследуемого материала с помощью известной программы двумерного Фурье-преобразования рассчитывают дифракционную картину Фраунгофера от этого изображения. С помощью той же программы двумерного Фурье-преобразования производят второе преобразование дифракционной картины, полученной после первого преобразования. О значениях периодов повторения в геометрической структуре исследуемого материала Тх и Ту судят по измеренным величинам минимальных расстояний между соседними рядами основных максимумов во второй рассчитанной таким образом дифракционной картине Δх2 и Δу2 и коэффициенту увеличения компьютерного изображения исследуемой поверхности K1 и рассчитывают по формулам: Тх=Δх2/К1, Ту=Δу2/К1. Технический результат - упрощение и сокращение времени измерения за счет того, что не требуется проведения контрольных измерений на изображении периодической структуры с известными геометрическими параметрами. 6 ил.
