Патенты автора Абашин Александр Евгеньевич (RU)
Изобретение относиться к области измерения параметров слабых потоков излучения и касается способа измерения параметров однофотонных источников излучения. Параметры источника излучения измеряются с помощью однофотонного сверхпроводникового детектора. Для осуществления способа измеряют среднее число отсчетов и количество темновых срабатываний детектора. Количество зарегистрированных фотонов определяют как разность среднего числа отсчетов и количества темновых срабатываний. Мощность излучения определяют как произведение количества зарегистрированных фотонов на энергию фотона, деленное на квантовую эффективность приемника излучения. Технический результат заключается в увеличении точности измерений и обеспечении возможности измерения малых величин мощности излучения. 1 з.п. ф-лы, 6 ил.
