Патенты автора Крошин Кирилл Игоревич (RU)
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения потенциально ненадежных элементов в еще работоспособном цифровом блоке. Техническим результатом является повышение эффективности технического диагностирования по определению потенциально ненадежных элементов в цифровых блоках. Технический результат достигается тем, что печатную плату дефектного устройства (модуль, ТЭЗ, ячейка) с наименьшим значением области работоспособности в диагностируемом цифровом блоке разбивают поэлементно на участки (зоны), в каждом из которых находится один из радиоэлементов цифрового устройства. С помощью узконаправленного облучателя, каждый участок последовательно подвергают программно-управляемому воздействию СВЧ излучения, при этом, при каждом облучении элементов устройства, на входы диагностируемого устройства из состава цифрового блока подают в заданном объеме псевдослучайные многоразрядные кодовые наборы, состоящие из логических нулей и единиц с равной вероятностью появления логического нуля или логической единицы в каждом разряде, при этом заданный объем кодовых наборов определяется количеством входов диагностируемого устройства и вычисляется с помощью метода синтеза тестов по критерию минимальной длины, сравнивают выходные отклики с их с эталонными уровнями, фиксируют величину мощности СВЧ излучения, являющуюся порогом функционирования.
