Патенты автора Софронеев Сергей Валерианович (RU)
Изобретение относится к области исследования и экспертизы алмазов и может использоваться в геммологии, при осуществлении геолого-поисковых работ методом поиска «алмазов по алмазам», для сравнения кристаллов из россыпей с алмазами из известных коренных и россыпных источников, а также при экспертных оценках партий кристаллов, включая обработанные камни, на предмет их принадлежности известным алмазоносным источникам. Заявлен способ сравнения выборок азотсодержащих алмазов с представительностью N, основанный на измерении, например, методом ИК-Фурье спектроскопии на целых кристаллах выборки усредненных концентраций азота в форме А и В или С и определении для выбранного порядка кинетики агрегации n, усредненных численных значений интегрального параметра агрегации Knt азотных А-центров либо С-центров, приобретенных кристаллами за время их генезиса. При этом дополнительно вычисляют логарифмы усредненных значений интегральных параметров агрегации (lgKnt), строят сглаженную функцию плотности вероятности распределения кристаллов из выборок по логарифму интегрального параметра агрегации и определяют степень статистического подобия двух выборок путем сравнения пары дискретных числовых массивов значений логарифмов интегрального параметра агрегации кристаллов или сглаженных функций плотности, например, по критерию Пирсона, а определение степени статистического подобия выборок по критерию Пирсона осуществляют, например, при помощи программного средства «Pearson Analyzer of Density Functions (PADF)». Технический результат - повышение достоверности определения степени статистического подобия выборок азотсодержащих алмазов из разных источников. 3 з.п. ф-лы, 6 ил.
Изобретение относится к физико-химическим методам анализа и может быть использовано при исследовании алмазов. Заявлен способ восстановления температурно-временных условий генезиса алмазов типа IaAB, либо смешанного типа Ib-IaA, основанный на вычислении по локальным концентрациям примесного азота в формах C, A и B в кристалле, измеренным, например, методом ИК-микроспектроскопии, локальных значений интегрального параметра Knt кинетики агрегации n-го порядка соответствующих азотных центров. При этом дополнительно регистрируют изменение значений интегрального параметра агрегации соответствующих азотных центров Δ(Knt) по слоям роста кристалла. Например, в какой-либо области тонкой алмазной пластины, пересекающей ростовые слои. Определение температуры T и времени Δt генезиса осуществляют из уравнения Arexp(-Ea/kBT)×Δt=Δ(Knt), где: kB - постоянная Больцмана, Ar и Ea - постоянная Аррениуса и энергия активации процесса агрегации С-, либо А-центров, соответствующие порядку кинетики агрегации n. Технический результат - повышение достоверности восстановления истории генезиса кристалла алмаза. 4 з.п. ф-лы, 8 табл., 26 ил.
