Патенты автора Халчев Виктор Феодосеевич (RU)
Изобретение относится к области тестирования дискретных объектов большой размерности. Технический результат заключается в повышении кратности неисправностей при их локализации. Устройство анализа результатов тестирования для локализации двукратных неисправностей содержит m m-разрядных многовходовых сигнатурных анализаторов (СА строк), входы которых соединены построчно со всеми mm выходами проверяемого объекта, и m m-разрядных многовходовых сигнатурных анализаторов (СА столбцов), входы которых соединены по столбцам со всеми mm выходами проверяемого объекта. При этом устройство дополнительно содержит m m-разрядных сигнатурных анализаторов (СА диагоналей), входы которых соединены подиагонально со всеми mm выходами проверяемого объекта. 3 ил.
Изобретение относится к области тестирования дискретных объектов большой размерности. Техническим результатом является повышение глубины локализации неисправностей. Устройство содержит m n-разрядных многовходовых сигнатурных анализаторов (СА строк), входы которых соединены со всеми mn выходами одновыходных блоков проверяемого объекта, n m-разрядных многовходовых сигнатурных анализаторов (СА столбцов), входы которых соединены со входами СА строк так, что j-e входы (j=1,…, n) всех m СА строк соединены со всеми m входами j-го СА столбцов. 1 ил.
