Патенты автора Рябушкин Олег Алексеевич (RU)

Изобретение относится к оптике, в частности к калориметрическим методам измерения коэффициентов оптического поглощения в оптических элементах. Способ измерения коэффициентов оптического поглощения и локальной температуры оптических элементов состоит в возбуждении пьезоэлектрического резонанса в пьезоэлектрическом кристалле, который приведен в тепловой контакт с исследуемым оптическим элементом, через который пропускают лазерное излучение. Резонансную частоту пьезоэлектрического кристалла можно определять, помещая пьезоэлектрический кристалл между обкладок конденсатора, который включается в цепь обратной связи инвертирующего усилителя, образуя автогенератор. По изменению частоты генерируемых колебаний автогенератора определяют изменение резонансной частоты пьезоэлектрического кристалла. Коэффициент поглощения рассчитывают на основании предварительной калибровки частоты пьезоэлектрического резонанса кристалла от температуры в условиях однородного разогрева. Техническим результатом изобретения является повышение точности и скорости измерений, значительное упрощение экспериментальной установки, возможность локального измерения температуры. 5 ил.

Изобретение относится к научно-техническим разработкам в области методик и устройств, позволяющих определять дефекты в оптических материалах, и позволяет выделять поверхностные дефекты. Устройство содержит пьезоэлектрический микрорезонатор, расположенный на торце стеклянного капилляра, и по крайней мере два металлических электрода, выполненных в виде стержней, расположенных внутри капилляра, в который вставлено оптическое волокно. Устройство может содержать от 2 до 6 металлических электродов, что позволяет подбирать оптимальное направление напряженности поля для возбуждения пьезоэлектрического резонанса. Пьезоэлектрический микрорезонатор может иметь различную форму, в том числе и форму полусферы или усеченной пирамиды. Изобретение дает возможность проводить локальные измерения, позволяет работать не только с кристаллами, но и со стеклами, и может найти применение в качестве неразрушающего метода контроля оптических материалов. 2 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к устройствам для измерения мощности оптического излучения, и может быть использовано, в частности, для измерения оптической мощности волоконных лазеров высокой мощности. Устройство для измерения оптической мощности волоконных лазеров, содержащее прозрачный в спектральном диапазоне измеряемого излучения оптический элемент. При этом оптический элемент представляет собой волоконный световод с металлическим покрытием, при этом металлическое покрытие через электрические контакты связано с измерителем электрического сопротивления. Технический результат – повышение точности при измерении мощности лазерного излучения. 2 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к области для определения металлических и диэлектрических параметров полупроводниковых гетероструктур. Устройство для сканирующей радиочастотно-оптической модуляционной спектроскопии содержит по крайней мере два металлических электрода, выполненных в виде стержней, расположеных внутри оптического волокна либо в светоотражающей оболочке, либо в защитном покрытии. Технический результат - повышение локальности измерений и возможность найти применение в качестве неразрушающего метода контроля металлических и диэлектрических полупроводниковых структур. 4 з.п. ф-лы, 4 ил.

Способ относится к оптике, в частности к калориметрическим методам измерения малых коэффициентов оптического поглощения кристаллов. Способ измерения малых коэффициентов оптического поглощения нелинейно-оптических кристаллов, обладающих пьезоэлектрическими свойствами, основан на измерении начального участка кинетики параметра калиброванного по температуре пьезоэлектрического резонанса при воздействии лазерного излучения. Калибровка производится в условиях однородного разогрева кристалла. Коэффициент оптического поглощения определяется из кинетики разогрева кристалла лазерным излучением с учетом замены термодинамической температуры кристалла на эквивалентную температуру. Причем используется только начальный линейный участок кинетики эквивалентной температуры, определяемый из кинетики одного из резонансных параметров. Технический результат заключается в снижении времени измерения коэффициента оптического поглощения на несколько порядков, что приводит к точности определения коэффициентов оптического поглощения. В свою очередь, минимальная величина и точность зависят от добротности и чувствительности к температуре соответствующих параметров используемых резонансов. 2 з.п. ф-лы, 7 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения температуры полимерной оболочки волоконного световода. Устройство содержит оптическое волокно с диэлектрической полимерной оболочкой, отдельные участки волокна помещены между металлическими обкладками конденсаторов. Обкладки конденсаторов параллельны участкам оптического волокна и прилегают к волокну с противоположных сторон. Конденсаторы соединены с отдельными катушками индуктивности или подключаются к общей катушке индуктивности. Сформированные колебательные LC-контуры являются локальными температурными датчиками, которые включаются в электрическую цепь, позволяющую измерять их амплитудно-частотную характеристику. Так как диэлектрическая проницаемость в радиочастотном диапазоне используемых в волоконной оптике полимеров имеет ярко-выраженную температурную зависимость, то для измерения температуры разогретого полимера используется метод радиочастотной импедансной спектроскопии. Процесс измерения распределения температуры полимерного покрытия волоконного световода включает в себя проведение калибровки устройства при однородном разогреве оптического волокна и измерении зависимости резонансной частоты амплитудно-частотной характеристики каждого колебательного контура от измеряемой однородной температуры. Распределение температуры полимерного покрытия по длине волокна при генерации или усилении излучения в оптическом волокне определяется из сопоставления сдвига резонансной частоты каждого колебательного контура с калибровочными коэффициентами. Технический результат – повышение функциональных возможностей устройства. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к области лазерной волоконной техники, в частности к области создания новых типов активных лазерных сред. Устройство представляет собой многоэлементное волокно для источника лазерного излучения, включающее активное волокно, содержащее световедущую жилу, легированную по меньшей мере одним типом редкоземельного элемента, и светоотражающую оболочку. Кроме того, по меньшей мере, один световод накачки, находящийся в оптическом контакте с активным волокном, при этом стеклянное активное волокно и стеклянный световод накачки покрыты, по меньшей мере, одним слоем полимерной оболочки. Вокруг полимерной оболочки оптического волокна намотана металлическая проволока или лента. Технический результат – стабилизация эффективности генерации волоконного лазера. 5 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к области электротехники, в частности к конденсаторам с нестандартным расположением электродов. Техническим результатом изобретения является повышение точности измерения температуры исследуемого кристалла и улучшение условий охлаждения кристалла. Устройство представляет собой электрический конденсатор, используемый для метода импедансной спектроскопии кристаллов, взаимодействующих с лазерным излучением. Каркас конденсатора образуют две диэлектрические стойки, закрепленные в диэлектрической пластине основания. Используемый в работе кристалл кварца размещается в стойках. Металлические электроды располагаются вдоль длины кристалла в радиальных плоскостях оси конденсатора, центрально симметрично по отношению к оси, на одинаковом от нее расстоянии. Наличие симметрии обеспечивает контроль степени однородности электрического поля в кристалле путем изменения количества электродов в конденсаторе. В случае, если количество электродов больше двух, то углы между плоскостями, соответствующими соседним электродам каждой обкладки конденсатора, одинаковые. Данная конфигурация расположения, малая толщина и использование хорошо отражающего свет металла для электродов минимизируют долю поглощаемого ими рассеянного излучения. Электроды играют роль эффективного радиатора, способствующего контролируемому, однородному охлаждению кристалла. Лучшие условия охлаждения кристалла достигаются использованием большего числа электродов в конденсаторе. 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения температуры полимерной оболочки волоконного световода. Способ измерения температуры полимерного покрытия волоконного световода состоит в проведение калибровки устройства путем осуществления внешнего нагрева оптического волокна и измерении зависимости резонансной частоты амплитудно-частотной характеристики колебательного контура от измеряемой термоконтроллером температуры. Температура полимерного покрытия при распространении излучения в оптическом волокне определяется при помощи сопоставления сдвига резонансной частоты колебательного контура с калибровочными коэффициентами. Данный метод позволяет измерять температуру полимерной оболочки оптического волокна в условиях прохождения оптического излучения, а также и других полимерных нитевидных структур. Технический результат - повышение точности определения температуры полимерного покрытия волоконного световода. 5 ил.

 


Наверх