Патенты автора ДЭВИС Николас Мэттью (GB)

Изобретение относится к способам и устройствам для измерения параметров ограненного драгоценного камня. Устройство состоит из комплекта источников излучения, каждый из которых сконфигурирован для испускания оптического излучения на отдельных длинах или в интервалах длин волн таким образом, чтобы испускаемое излучение облучало, по меньшей мере, часть измерительной позиции. Также устройство содержит приемную систему, сконфигурированную с возможностью детектировать излучение на множестве воспринимаемых длин волн или в воспринимаемых интервалах длин волн для измерения различных параметров. Излучение от комплекта источников излучения к измерительной позиции и от измерительной позиции к приемной системе направляется по оптоволоконным жилам. Комплект приемных устройств состоит из двух спектрометров, первый из которых предназначен для измерения поглощения, а второй для измерения спектра комбинационного рассеяния. Способ заключается в измерении всех параметров одним устройством, при этом ограненный драгоценный камень располагается в одной и той же измерительной позиции Техническим результатом изобретения является увеличение надежности и скорости сортировки ограненных драгоценных камней. 5 н. и 29 з.п. ф-лы, 10 ил.

Изобретение относится к способам и устройствам для измерения параметров ограненного драгоценного камня. Устройство состоит из комплекта источников излучения, каждый из которых сконфигурирован для испускания оптического излучения на отдельных длинах или в интервалах длин волн таким образом, чтобы испускаемое излучение облучало, по меньшей мере, часть измерительной позиции. Также устройство содержит приемную систему, сконфигурированную с возможностью детектировать излучение на множестве воспринимаемых длин волн или в воспринимаемых интервалах длин волн для измерения различных параметров. Излучение от комплекта источников излучения к измерительной позиции и от измерительной позиции к приемной системе направляется по оптоволоконным жилам. Комплект приемных устройств состоит из двух спектрометров, первый из которых предназначен для измерения поглощения, а второй для измерения спектра комбинационного рассеяния. Способ заключается в измерении всех параметров одним устройством, при этом ограненный драгоценный камень располагается в одной и той же измерительной позиции Техническим результатом изобретения является увеличение надежности и скорости сортировки ограненных драгоценных камней. 5 н. и 29 з.п. ф-лы, 10 ил.

Сортировальный аппарат (100) для классифицирования необработанных потенциально драгоценных камней в составе агрегатного материала. Аппарат содержит транспортирующую систему (102) для индивидуального транспортирования камня, извлеченного из агрегатного материала, по меньшей мере к одному месту измерения и измерительную систему (104), сконфигурированную с возможностью проводить, по меньшей мере в одном месте измерения, одно или более из следующих определений: содержит ли камень алмазный материал, содержит ли алмазный материал борт и какова форма камня. Аппарат содержит также распределительную систему (106), сконфигурированную для подачи камня из транспортирующей системы в одну из множества зон в зависимости от результатов определения, проведенного измерительной системой. 28 з.п. ф-лы, 9 ил.

Настоящее изобретение относится к автоматической ориентации драгоценного камня. Заявленная группа изобретений включает устройство для ориентации драгоценных камней, устройство для сортировки искусственных драгоценных камней и способ ориентации отдельных драгоценных камней. Причем устройство для ориентации драгоценных камней содержит подвижную поверхность, обеспечивающую путь перемещения для этих драгоценных камней, пару противостоящих стенок, проходящих по существу вдоль указанного пути перемещения, и вибратор, выполненный с возможностью генерирования соответствующего колебательного движения между указанной парой стенок и подвижной поверхностью в направлении, по существу перпендикулярном указанному пути перемещения, так что при использовании указанная пара стенок сообщает драгоценным камням поперечную силу и тем самым вынуждает их ориентироваться в наиболее устойчивое положение по мере их продвижения по пути перемещения. Заявленный способ ориентации отдельных драгоценных камней содержит следующие этапы: размещение указанных драгоценных камней на пути перемещения; использование пары противостоящих стенок, проходящих по существу вдоль пути перемещения; и генерирование соответствующего колебательного движения между указанной парой стенок и указанным путем перемещения в направлении, по существу перпендикулярном этому пути перемещения, так что указанная пара стенок сообщает поперечную силу драгоценного камням и тем самым вынуждает их ориентироваться в наиболее устойчивое положение по мере их продвижения по пути перемещения. Технический результат заключается в обеспечении автоматизированного процесса, который обеспечивает увеличение скорости и эффективности ориентации драгоценного камня. 3 н. и 29 з.п. ф-лы, 7 ил.

Изобретение относится к производству монокристаллического алмазного материала химическим осаждением из газовой фазы (CVD), который используется в оптических, механических, люминесцентных и/или электронных устройствах. Алмазный слой содержит сетку непараллельных взаимно пересекающихся дислокаций, как это видно на рентгеновском топографическом изображении сечения или в условиях люминесцентной методики, причем слой имеет толщину, равную или большую чем 1 мкм, сетка непараллельных дислокаций простирается по объему, составляющему, по меньшей мере, 30% от полного объема алмазного слоя, и при этом сетка непараллельных дислокаций содержит первый набор дислокаций, распространяющихся в первом направлении через алмазный слой, и второй набор дислокаций, распространяющихся во втором направлении через алмазный слой, причем угол между первым и вторым направлениями находится в пределах от 40° до 100°, как это видно на рентгеновском топографическом изображении сечения или в условиях люминесцентной методики. Изобретение позволяет контролировать тип и/или направление дислокаций в алмазном материале для воздействия на оптические и/или электронные свойства устройств на его основе и оптимизировать их для конкретного желаемого приложения. 3 н. и 9 з.п. ф-лы, 8 ил., 2 табл., 3 пр.
Мы будем признательны, если вы окажете нашему проекту финансовую поддержку!

 


Наверх