Патенты автора ВАНГ Шерон Х. (US)
АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ ИДЕНТИФИКАЦИЯ КРИСТАЛЛОВ, ВЫПОЛНЯЕМАЯ ПОСРЕДСТВОМ МОДИФИЦИРУЕМЫХ ШАБЛОНОВ // 2597162
Изобретение относится к системе радионуклидной визуализации. Техническим результатом является повышение точности реконструкции изображения. Система радионуклидной визуализации содержит систему идентификации кристаллов, которая принимает залитое изображение, которое включает в себя множество пиков, при этом каждый пик является откликом на излучение, обнаруженное соответствующим сцинтилляционным кристаллом. Процессор идентификации кристаллов разбивает залитое изображение на множество областей, при этом каждую область маскируют для соответствия одному из матрицы детекторов ядерных излучений. Формируют изображение моделей, в котором по меньшей мере одна гауссова модель представляет идентифицированные пики. Определяют неправильно идентифицированные пики в изображении моделей, на котором положения пиков на залитом изображении отличаются от соответствующего сцинтилляционного кристалла, и корректируют положения неправильно идентифицированных пиков на залитом изображении. Калибровочный процессор корректирует геометрические искажения в полученных данных проекций по скорректированным пикам. 4 н. и 11 з.п. ф-лы, 8 ил.
Изобретение относится к средствам обработки объемных изображений. Техническим результатом является уменьшение времени создания конечных изображений при выравнивании объемных секций данных изображения. В способе выбирают первичную объемную секцию и вторичную объемную секцию, смежную первичной объемной секции для получения изображений, определяют один или более параметров (310) выравнивания по оси z; определяют один или более параметров (314) выравнивания по осям х и y; применяют (316) один или более параметров (310) по оси z и один или более параметров (314) по оси x и оси y для смещения положения вторичной объемной секции для ее выравнивания с первичной объемной секцией. 13 з.п. ф-лы, 16 ил.
