Патенты автора Пикарь Валерий Александрович (RU)

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний на стойкость различных видов сложнофункциональных интегральных микросхем (СИМ) к статическим дестабилизирующим воздействиям (СДВ), в том числе к воздействию ионизирующих излучений. В способе проведения испытаний на стойкость СИМ к СДВ, при котором испытания проводят с использованием тестера, до воздействия испытываемую микросхему (ИМ) устанавливают в испытательную оснастку, производят контроль контактирования выводов ИМ с испытательной оснасткой. Затем во время проведения испытаний производят СДВ, выполняют функциональное тестирование с измерением тока потребления ИМ и информируют оператора о результатах тестирования, по окончании СДВ производят анализ полученных данных, по результатам которых делают заключение о стойкости микросхемы к СДВ. Новым является то, что в качестве тестера используют генераторы-анализаторы, при этом на этапе подготовки испытаний производят распределение тестовых векторов функционального тестирования (ТВФТ) по каналам генераторов в соответствии со схемой испытаний. На основе ТВФТ генерируют тестовые векторы параметрического контроля (ТВПК), до СДВ с целью проведения входного контроля и оценки влияния условий испытаний для каждой микросхемы, производят функциональное тестирование и параметрический контроль. Параметрический контроль включает измерение статических и динамических электрических параметров микросхемы, сначала в лабораторных условиях и затем в условиях, при которых будут проводиться испытания. Для компенсации влияния условий испытаний постоянно учитывают падение напряжения на линиях электропитания ИМ, во время функционального тестирования и параметрического контроля применяют измененные с учетом длины информационных линий связи ТВФТ и ТВПК, а также для автоматической компенсации задержек сигналов в информационных линиях связи используют линию синхронизации. Техническим результатом является расширение функциональных возможностей способа за счет увеличения перечня дестабилизирующих воздействий. Кроме этого, учет и компенсация влияния условий проведения испытаний повышает качество результатов испытаний. 1 ил.

Изобретение относится к радиационной технике и может быть использовано при проведении испытаний различных типов элементов электронно-компонентной базы (ЭКБ) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИ). Сущность изобретения заключается в том, что автоматизированный комплекс для испытаний элементов электронно-компонентной базы на радиационную стойкость содержит источник ионизирующего излучения, в прямом потоке которого размещают детектор ионизирующего излучения и облучаемый экранирующий от электромагнитного излучения контейнер с испытываемым элементом электронно-компонентной базы, а также содержащий блок управления и функционального контроля, многоканальные буферные согласующие устройства (БСУ), стабилизированные источники электропитания, средства измерений, измерительные входы которых соединены с выходами многоканальных буферных согласующих устройств и детектора ИИ, а также ПЭВМ с программным обеспечением, соединенную с входами-выходами блока управления и функционального контроля и средств измерения. При этом блок управления и функционального контроля соединен с ПЭВМ, а многоканальные БСУ и детектор ИИ соединены со средствами измерения с помощью волоконно-оптических линий передачи (ВОЛП), при этом стабилизированные источники электропитания являются автономными, блок управления и функционального контроля, многоканальные буферные согласующие устройства и источники электропитания размещены в облучаемом контейнере и защищены от воздействия ионизирующего излучения экраном. Технический результат - повышение помехоустойчивости к воздействию электромагнитных наводок. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.

 


Наверх