Патенты автора Шалай Максим Константинович (RU)
Изобретение относится к способу испытаний радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) на стойкость к воздействию импульсного гамма-излучения (ИГИ). При осуществлении способа квазиноминальное напряжение питания длительностью Δτ заменяют постоянным напряжением питания и проводят последовательное двухэтапное облучение блоков РЭА. На первом этапе блоки РЭА облучают ИГИ при неизменном напряжении питания, причем оценивают стойкость блоков РЭА по критерию возникновения радиационного защелкивания и катастрофических отказов. В случае стойкости блоков РЭА к воздействию ИГИ после первого этапа, проводят второй этап испытаний, на котором блоки РЭА облучают ИГИ с одновременным воспроизведением амплитудно-временной характеристики напряжения питания блоков РЭА, соответствующей радиационной реакции источника вторичного электропитания (ИВЭП) блоков РЭА при воздействии ИГИ. Стойкость блоков РЭА оценивают по критерию возникновения сбоев. Необходимую для воспроизведения радиационную реакцию ИВЭП блоков РЭА при воздействии ИГИ определяют при облучении ИВЭП с эквивалентом нагрузки ИГИ. В случае стойкости блоков РЭА к воздействию ИГИ после второго этапа делают заключение о стойкости РЭА к воздействию ИГИ в целом. Техническим результатом является обеспечение запаса надежности испытаний РЭА на стойкость к воздействию ИГИ. 2 ил.
Изобретение относится к области электротехники, в частности к испытаниям радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию импульсного гамма-излучения. Технический результат заключается в учете влияния на выходное напряжение источника вторичного электрического питания (ИВЭП) возрастающих токов потребления подключенных блоков радиоэлектронной аппаратуры при воздействии импульсного гамма-излучения. Достигается тем, что производится поочерёдное облучение блоков радиоэлектронной аппаратуры импульсом гамма-излучения и измерение амплитудно-временных характеристик (АВХ) тока потребления и напряжения питания каждого блока. По результатам измерений этих параметров рассчитывают АВХ электрической проводимости G1i, затем подбирают для каждого облученного блока малогабаритную полупроводниковую модель с амплитудно-временной характеристикой радиационной электрической проводимости G2i, адекватной значению G1i. Далее в выходную электрическую цепь ИВЭП параллельно нагрузочным резисторам дополнительно подключают малогабаритные полупроводниковые модели и облучают их импульсом гамма-излучения с заданными параметрами. По степени изменения АВХ выходного напряжения ИВЭП оценивают радиационную стойкость источника питания. 5 ил.
Изобретение относится к области метрологического обеспечения дозиметрического контроля облучения личного состава, действующего в условиях воздействия смешанного нейтронного и гамма-излучения, и может быть использовано для испытаний и поверки индивидуальных дозиметров. Сущность изобретения заключается в том, что комплекс состоит из источников ионизирующих излучений, в качестве которых выбраны ядерно-физические установки (ЯФУ): ядерный реактор и генератор термоядерных нейтронов, трансформаторов ионизирующих излучений, расположенных на стойках между источниками ионизирующих излучений и испытываемыми объектами и предназначенных для формирования модельных полей гамма- и нейтронного излучения (ПГНИМ), близких по энергетическому спектру нейтронов и соотношению поглощенных доз нейтронного и гамма-излучения (Дn/Дγ) к полям проникающей радиации в равновесной зоне взрыва атомного и нейтронного боеприпасов на открытой местности и в среднезащищенном объекте, в которых применяются войсковые индивидуальные дозиметры, и входящих в состав ЯФУ каналов мониторирования, на показания которых приведены результаты метрологической аттестации полей ПГНИМ по поглощенным дозам нейтронного и гамма-излучения. Технический результат - повышение точности дозиметрического контроля облучения личного состава при ведении боевых действий в условиях применения ядерного оружия. 1 ил., 1 табл.
