Патенты автора Михайлович Анна Павловна (RU)
Изобретение относится к технологии контроля качества измерений, проводимых с использованием компьютерных систем анализа изображений, и может быть использовано для оценки систематической погрешности морфологических характеристик структуры материалов тел в конденсированном состоянии. Способ включает получение изображения поверхности стандартного образца, обработку этого изображения и выделение на нем объектов измерений, проведение измерений и сравнение полученного результата с опорным значением. В качестве стандартного образца используют поверхность с имитациями структуры материала, рисунок которой получен цифровой обработкой изображения репрезентативного участка этого материала, подготовленного в соответствии с оцениваемой методикой. Стандартный образец содержит поверхность, на которой с сохранением масштаба сформированы имитации структуры материала, рисунок которой получен цифровой обработкой изображения репрезентативного участка этого материала, подготовленного в соответствии оцениваемой методикой. При этом обеспечивается оценка и контроль показателей точности методики измерений в целом, упрощается технология оценки и контроля за счет исключения подготовки репрезентативного участка поверхности образца, а также повышается стабильность метрологических характеристик стандартного образца и обеспечивается возможность тиражировать его в неограниченном количестве при идентичности всех производимых экземпляров. 2 н. и 5 з.п. ф-лы, 7 ил.
