Патенты автора Костюков Михаил Валерьевич (RU)
ОБНАРУЖЕНИЕ БЛИКА В КАДРЕ ДАННЫХ ИЗОБРАЖЕНИЯ // 2653461
Изобретение относится к области анализа кадра, включающего данные изображения, для обнаружения дефектов в кадре. Технический результат – обнаружение бликов в кадре посредством использования вычисленного набора статистик для связных компонент. Способ обнаружения бликов в кадре включает предварительную обработку кадра, включающего данные изображения; определение набора связных компонент в предварительно обработанном кадре; вычисление набора статистик для одной или более связных компонент из набора связных компонент; принятие решения для одной или более связных компонент, на основе вычисленного набора статистик, о том, является ли данная связная компонента засветом, при этом указанное вычисление набора статистик включает сбор по меньшей мере одной статистики направлений и по меньшей мере одного значения градиента яркости по границе по меньшей мере одной связной бинаризованной области; и определение с учетом принятого решения для одной или более связных компонент посредством процессора, того, присутствует ли один или более бликов в кадре. 3 н. и 31 з.п. ф-лы, 22 ил.
Изобретение относится к области обработки изображений. Техническим результатом является повышение качества исходных фрагментов изображений за счет осуществления фильтрации. Предложен способ обработки изображения документа. Способ включает в себя этап, на котором осуществляют идентификацию при помощи вычислительного устройства, содержащего один или более процессоров, множества изображений фрагментов в пределах изображения документа. Далее согласно способу осуществляют разделение при помощи вычислительного устройства множества изображений фрагментов на множество классов, причем каждый класс из множества классов включает в себя подмножество из множества изображений фрагментов, которые в значительной степени похожи друг на друга, где определение степени похожести одного фрагмента изображения на другой осуществляется на основании заданной меры, определяющей степень сходства между этими фрагментами. 3 н. и 18 з.п. ф-лы, 15 ил.
