Патенты автора Елеонский Святослав Игоревич (RU)
Изобретение относится к области экспериментальной механики и предназначено для определения коэффициентов интенсивности напряжений (КИН) для трещин, возникающих при эксплуатации элементов авиационных конструкций. Сущность: осуществляют установку исследуемого образца, нагруженного внешними усилиями и/или содержащего остаточные напряжения, в оптическую схему интерферометра, регистрацию исходного состояния спекл-структуры поверхности высокоразрешающей видеокамерой, увеличение длины трещины на малое приращение, регистрацию спекл-структуры деформированного состояния поверхности образца вследствие продвижения трещины, визуализацию картин интерференционных полос путем численного вычитания двух полученных ранее изображений, определение величин раскрытия трещины в точке начала приращения ее длины и в центральной точке этого приращения, вычисления величины КИН по формулам, вытекающим из соотношений линейной механики разрушения. Технический результат: повышение точности измерения КИН при воздействии внешних и, особенно, остаточных напряжений, что необходимо для повышения эксплуатационного ресурса и надежности элементов авиационных конструкций за счет учета эволюции параметров механики разрушения вследствие циклического нагружения. 1 з.п. ф-лы, 4 табл., 16 ил.
Изобретение относится к области экспериментальной механики и предназначено для определения остаточных напряжений, возникающих при изготовлении тонкостенных конструкций летательных аппаратов из композиционных материалов. Технический результат от реализации данного изобретения заключается в повышении точности измерения остаточных напряжений, а также повышении ресурса и надежности элементов конструкций при их эксплуатации за счет учета вклада остаточных напряжений в общее напряженно-деформированное состояние. Способ определения остаточных напряжений в материале детали включает в себя установку образца в виде прямоугольной пластины в оптическую схему интерферометра, регистрацию спекл-структуры на поверхности образца в исходном состоянии высокоразрешающей видеокамерой, удаление образца из оптической схемы интерферометра, высверливание зондирующего отверстия, возвращение образца в исходное положение, регистрацию спекл-структуры деформированной поверхности образца, визуализацию картин интерференционных полос путем численного вычитания двух полученных ранее изображений, определение приращения диаметров зондирующего отверстия в направлении главных остаточных напряжений, вычисление компонент главных остаточных напряжений по формулам, вытекающим из теоретического решения о концентрации напряжений на контуре сквозного кругового отверстия в пластине при ее растяжении в произвольном направлении по отношению к главным осям анизотропии. 8 ил.
