Патенты автора Темкин Вячеслав Витальевич (RU)

Изобретение относится к области фотометрии и касается способа настройки фотометра-нефелометра. Способ заключается в проведении измерения величины светорассеивания чистого воздуха при определенном давлении в аэрозольной камере фотометра-нефелометра, определении результата измерения и настройке фотометра-нефелометра по результатам измерений. Измерение величины светорассеивания чистого воздуха, находящегося в аэрозольной камере фотометра-нефелометра, осуществляют при давлении не более 0,667 кПа. Затем определяют текущее значение атмосферного давления и настройку фотометра-нефелометра проводят по контрольному значению тока, определяемому в зависимости от фактического атмосферного давления в момент настройки и собственного светорассеяния аэрозольной камеры фотометра-нефелометра. Технический результат заключается в повышении точности и уменьшении трудоемкости настройки фотометра-нефелометра.

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам элементного анализа вещества. Способ анализа элементного состава веществ включает введение вещества в источник нагрева, нагревание исследуемого вещества и регистрацию спектров излучения, при этом нагревание вещества проводят до температуры его атомизации, затем в зоне нагрева вещества формируют неравновесную электроразрядную плазму с параметром E/N в диапазоне от 20 до 200 таунсендов и регистрируют значение спектров излучения. Техническим результатом является увеличение предела обнаружения и возможность анализировать вещества разного агрегатного состава, а также расширение диапазона анализируемых веществ. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается фотометра с шаровым осветителем. Фотометр включает в себя осветитель, систему линз, кюветное отделение, фотоприемное устройство и вычислительную систему. Осветитель выполнен в виде фотометрического шара, имеющего диффузно отражающую внутреннюю поверхность, в которой выполнены сквозные отверстия со встроенными в них импульсными светодиодами, имеющими линейные размеры в пределах 0,003-0,006 диаметра фотометрического шара. Площадь внутренней поверхности шара и суммарная площадь отверстий шара с установленными в них источниками излучения находятся в соотношении: где: Sш - площадь внутренней поверхности фотометрического шара осветителя; Sо - площадь отверстий на внутренней поверхности фотометрического шара; ρ - коэффициент отражения внутренней поверхности фотометрического шара. Технический результат заключается в повышении точности измерения, снижении порога чувствительности, повышении стабильности и воспроизводимости результатов измерений. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

 


Наверх