Патенты автора ЭДВАРДС Расселл Дж. (US)

Способ содержит измерение пропускания излучения нескольких различных длин волн через линзы различных предварительно известных толщин; расчет коэффициента k, который является константой в выражении для закона Бера %T=10(2-kt), где %Т - величина пропускания излучения, t - толщина офтальмологической линзы для каждой длины волны, получение первых значений контрастности при вычитании величины пропускания при указанной глубине дефекта, не проходящего через всю толщину линзы, из величины пропускания при отсутствии линзы для указанных нескольких длин волн; получение вторых значений контрастности при вычитании величины пропускания при максимальной толщине, являющейся толщиной готовой линзы, из величины пропускания при указанной глубине дефекта для указанных нескольких длин волн; сравнение первых и вторых значений контрастности и выбор их минимальных значений при каждой длине волны, и построение графика зависимости минимальных значений контрастности от длины волны; выбор длины волны для проверки на графике при самом максимальном пике. Технический результат - обеспечение оптимального выбора длины волны при сокращении времени выбора. 7 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к области проверки офтальмологических линз с использованием излучения различной длины волны. Согласно способу офтальмологические линзы, находящиеся в контейнере с упаковочным раствором, при проходе по производственной линии последовательно облучают излучением с различной длиной волны. Полученные изображения сравнивают для определения дефекта. Технический результат - обеспечение возможности определения различия между дефектами офтальмологических линз и пузырьками воздуха в упаковке. 11 з.п. ф-лы, 2 ил.

 


Наверх