Патенты автора Шуткин Сергей Германович (RU)
Использование: для измерения скорости распространения и коэффициента затухания ультразвуковых волн при исследовании физико-механических характеристик материалов. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для измерения параметров ультразвуковых импульсов содержит последовательно соединенные синхронизатор, генератор зондирующих импульсов, излучатель, приемник, усилитель, временной селектор, узкополосный фильтр, выход которого соединен с регистратором амплитуды, снабжено вторым синхронизатором, выход которого подключен к входу первого синхронизатора, выполненного в виде делителя частоты, первым формирователем импульсов, вход которого подключен к выходу первого синхронизатора, а выход к входу временного селектора, вторым формирователем импульсов, вход которого подключен к выходу второго синхронизатора, последовательно соединенными системами АЦП, ОЗУ, ЦАП. При этом выход временного селектора подключен к входу системы АЦП, вход разрешения записи ОЗУ соединен с выходом первого формирователя импульсов, вход разрешения воспроизведения ОЗУ с выходом второго формирователя импульсов, а выход системы ЦАП - с входом узкополосного фильтра. Технический результат: обеспечение возможности измерять скорость распространения и коэффициент затухания ультразвуковой волны в материалах с большим частотно-зависимым затуханием ультразвука в широком диапазоне частот, а также повысить точность измерения. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Способ уменьшения мертвой зоны при контроле изделий ультразвуковым эхо-импульсным методом // 2621890
Изобретение относится к метрологии, в частности к способам контроля материалов и изделий. Способ уменьшения мертвой зоны при контроле изделий ультразвуковым эхо-импульсным методом заключается в том, что на контролируемое изделие устанавливают преобразователь через линию акустической задержки, вводят в контролируемое изделие ультразвуковой импульс и компенсируют импульс, отраженный от границы раздела изделия и линии акустической задержки, аналогичным по форме и амплитуде импульсом. Перед проведением контроля устанавливают преобразователь через линию акустической задержки на настроечный образец, возбуждают ультразвуковые колебания, фиксируют импульс, отраженный от границы раздела настроечного образца и линии акустической задержки, и используют этот импульс для компенсации. При этом толщина настроечного образца выбирается из условия, чтобы акустическая задержка в настроечном образце была больше или равна акустической задержке в контролируемом слое изделия. Линия задержки представляет собой волновод, а в качестве компенсирующего импульса используют импульс, дважды отраженный от границы линии акустической задержки и контролируемого изделия. Технический результат – повышение точности. 4 з.п. ф-лы, 4 ил.
Использование: для измерения параметров ультразвуковых волн (УЗВ) при исследованиях физико-механических характеристик материалов и дефектоскопии. Сущность изобретения заключается в том, что перед проведением основного измерения получают информацию о помехе, для чего в исследуемой среде располагают излучающий и приемный преобразователи, возбуждают и принимают ультразвуковые импульсы, нормируют амплитуду первого вступления, соответствующего волне помехи, запоминают полученный импульс, после чего проводят основное измерение, нормируют амплитуду первого вступления импульса, совмещают его с первым вступлением импульса, полученного при предварительном измерении, и производят вычитание импульсов. Причем при предварительном измерении излучающий и приемный преобразователи располагают так, чтобы после компенсации помехи в результирующем импульсе первое вступление формировалось полезным сигналом. Технический результат: обеспечение возможности повышения точности измерения параметров ультразвуковых волн при исследованиях физико-механических характеристик материалов и дефектоскопии. 2 н.п. ф-лы, 10 ил.
Использование: для измерения коэффициента затухания ультразвуковых волн (УЗВ) в различных средах. Сущность изобретения заключается в том, что на первую поверхность образца устанавливают первый преобразователь, совмещенно подключенный к дефектоскопу, измеряют амплитуду второго донного импульса, устанавливают на противоположной поверхности образца соосно первому второй преобразователь, не подключенный к дефектоскопу, измеряют амплитуду первого донного импульса, подключают второй преобразователь к дефектоскопу взамен первого, не меняя положения преобразователей относительно контролируемого образца, измеряют амплитуду первого донного импульса, снимают с образца первый преобразователь, измеряют амплитуду второго донного импульса и по соотношению измеренных амплитуд судят о величине коэффициента затухания. Технический результат: повышение точности измерения коэффициента затухания ультразвуковых волн. 4 ил.
