Патенты автора Мещеряков Александр Владимирович (RU)
СПОСОБ ЮСТИРОВКИ БОРТОВЫХ РАДИОЛОКАЦИОННОЙ И ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СТАНЦИЙ ЛЕТАТЕЛЬНОГО АППАРАТА // 2757679
Использование: изобретение относится к области локации и может быть использовано при эксплуатации разработке существующих и перспективных прицельно-навигационных комплексов летательных аппаратов. Сущность: способ юстировки бортовых радиолокационной и оптико-электронной станций летательного аппарата, включающий измерение координат воздушного объекта, определение систематических ошибок юстировки радиолокационной и оптико-электронной станций и их введение в алгоритм прицеливания авиационного средства поражения, отличающийся тем, что дополнительно многократно измеряют угловые координаты воздушного объекта бортовой оптико-электронной станцией, вычисляют средние значения измеренных угловых координат воздушного объекта, а систематическую ошибку юстировки определяют как разность между средними значениями одноименных координат, измеренных радиолокационной и оптико-электронной станциями, и вводят их значения в алгоритм прицеливания авиационного средства поражения. Технический результат: повышение точности определения систематических ошибок юстировки радиолокационной и оптико-электронной станций за счет осуществления в полете дополнительно многократных измерений угловых координат воздушного объекта бортовой оптико-электронной станцией, вычисления среднего значения измеренных угловых координат воздушного объекта и определения систематической ошибки юстировки как разности между средними значениями одноименных координат, измеренных радиолокационной и оптико-электронной станциями. 2 ил.
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТОЙКОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ СВЧ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ // 2602416
Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы получить вызванное ею приращение интегрального низкочастотного шума прибора над шумами его исходного состояния, анализе приращений интегрального шума с ростом накопленной дозы, определении приращения интегрального шума, достигнутого к моменту окончания М-го цикла, с которого начинают уверенно фиксироваться изменения рабочего тока прибора, выбраковке приборов тех типов, у которых среднее значение приращения интегрального шума на единицу дозы, достигнутое к моменту окончания М-го цикла, оказывается больше, чем у приборов других типов. Технический результат: обеспечение возможности повышения достоверности определения стойкости полупроводниковых приборов к проникающим ионизирующим излучениям. 2 ил.
