Патенты автора Мельник Константин Петрович (RU)
Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении оптических приборов на основе оптических кристаллов. Заявленная установка по определению степени дефектности оптических элементов методом лазерной интерферометрии включает в себя гелий-неоновый лазер, коллиматор, интерферометр Маха-Цандера, в одно из плеч которого установлен исследуемый образец. При этом держатель образца представляет собой цанговый зажим из диэлектрического материла, позволяющий поворачивать образец вокруг оси, совпадающей с лазерным лучом, проходящим через образец, а также подавать напряжение на противоположные грани образца с целью выявления дефектов, чувствительных к направлению поляризации света и приложенному электрическому полю. Технический результат - определение внутренних и внешних оптических неоднородностей кристаллов, в том числе дефектов чувствительных как к поляризации света, так и к внешнему электрическому полю. 2 ил.
Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении оптических приборов на основе оптических кристаллов, обладающих высокой электропроводностью. Способ осуществляется следующим образом: кристалл с высокой электропроводностью помещают в одно из плеч интерферометра Маха-Цандера, держатели (электроды) электрически изолируют от кристалла и прикладывают к ним переменное импульсное напряжение. При помощи фотоприемника регистрируют изменение интенсивности интерференционной картины и по измеренному изменению интенсивности интерференционной картины рассчитывают электрооптический коэффициент. Техническим результатом является обеспечение измерения электрооптического коэффициента у кристаллов с высокой электропроводностью. 2 ил.
