Патенты автора БИТЗЕЛ Рэймонд (US)

Данное изобретение относится, в целом, к области абразивной подготовки поверхности, а более конкретно к способам и устройству измерения профиля подготовленной поверхности. Заявленная группа изобретений включает способ измерения поверхности и устройство измерения поверхности. Причем способ содержит этапы, на которых осматривают множество образцов первой неровной поверхности обрабатываемой детали в двух измерениях, причем каждый из множества образцов имеет, по существу, одинаковый размер, определяют, на основе осмотров образцов, общее число выступов поверхности на каждом из множества образцов, получают предел допустимых отклонений из статистической изменчивости общего числа выступов поверхности на каждом из множества образцов, причем предел допустимых отклонений задается для указания условия выхода за допуск для общего числа выступов поверхности на второй неровной поверхности обрабатываемой детали, осматривают участок второй неровной поверхности обрабатываемой детали в двух измерениях, причем участок имеет, по существу, тот же размер, что и один из множества образцов, определяют, на основе осмотра участка второй неровной поверхности обрабатываемой детали, общее число выступов поверхности на участке и сравнивают общее число выступов поверхности на участке с пределом допустимых отклонений, чтобы определять, находится ли вторая неровная поверхность обрабатываемой детали в условиях выхода за допуск. Технический результат заключается в обеспечении способа и устройства измерения поверхности, посредством которых возможно проводить осмотр и измерение поверхности обрабатываемой детали, например, определять, находится ли профиль поверхности в пределах желаемых спецификаций, пределов допустимых отклонений или допусков, идентифицируя выступы и/или впадины на поверхности, а также возможно идентифицировать изменения и неровности поверхности, вызванные другими условиями, возникающими во время подготовки поверхности, такими как вибрация, температура, скорость колеса и т.п. 2 н. и 18 з.п. ф-лы, 7 ил.

 


Наверх