Патенты автора Горбатков Михаил Викторович (RU)

Изобретение относится к области электрохимической обработки материалов и касается способа определения толщины покрытия. Способ включает в себя измерение через 5-300 с после начала обработки интенсивности излучения детали в диапазоне длин волн шириной 3-50 нм, включающем характеристическую спектральную линию излучения материала детали, расположенную в области длин волн 200-900 нм. Кроме того, измеряют интенсивность излучения микроразрядов в диапазоне длин волн шириной 3-50 нм, включающем характеристическую спектральную линию излучения одного из компонентов электролита, расположенную в области длин волн 200-900 нм. Толщину покрытия определяют по формуле: h=k1⋅(lnI1-lnI2)+k2, где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым, а I1 и I2 - интенсивности спектральных линий одного из компонентов электролита и материала детали соответственно. Технический результат заключается в повышении точности определения толщины покрытия и обеспечении возможности своевременного прекращения процесса плазменно-электролитического оксидирования. 2 н.п. ф-лы, 10 ил., 2 табл.

Использование: для измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения толщины покрытия включает измерение напряжения в процессе получения покрытия, где измеряют среднее и амплитудное значения напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формуле где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым; Ucp и Umax - среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно. Технический результат: повышение точности определения толщины оксидного покрытия для своевременного прекращения процесса плазменно-электролитического оксидирования. 5 ил., 1 табл.

Изобретение относится к области гальванотехники, в частности к твердому анодированию алюминиевых сплавов. Способ определения толщины оксидного покрытия в процессе твердого анодирования алюминиевого сплава включает измерение плотности тока и времени анодирования, а также измеряют напряжение на электролизере, рассчитывают удельное энергопотребление а толщину покрытия рассчитывают по формуле h=k⋅Q, где Q - удельное энергопотребление, кВт⋅ч/дм2, t - время анодирования, ч, J - плотность тока, A/дм2, U - напряжение на электролизере, В, h - толщина покрытия, мкм, k - эмпирический коэффициент, определяемый по тарировочной кривой зависимости h, мкм, и Q, кВт⋅ч/дм2, для анодируемого алюминиевого сплава и состава электролита. Технический результат - повышение точности определения толщины покрытия. 1 табл., 3 пр., 8 ил.

 


Наверх