Патенты автора Сафронова Екатерина Юрьевна (RU)
Изобретение относится к медицине, а именно к урологии. До наложения швов непосредственно на шейку мочевого пузыря визуализируют устья обоих мочеточников через отверстие в шейке мочевого пузыря для контроля поступления мочи и исключения возможности попадания последних в шов. Производят ушивание дефекта стенки мочевого пузыря через все слои без выворачивания слизистой мочевого пузыря до расстояния 1-2 см дистальнее устьев мочеточников, в дорсальном направлении, начиная с дистального края резецированной шейки мочевого пузыря, с его вентральной поверхности непрерывным атравматическим швом. Выворачивают слизистую оболочку мочевого пузыря и в первую часть шва захватывают все стенки мочевого пузыря кроме слизистой оболочки. Затем перед каждым последующим выколом иглы подхватывают отдельно слизистую оболочку, делая вкол иглы глубже в подслизистый слой, выворачивая слизистую, формируют отверстие диаметром 20 (по шкале Шаррьера) с выворачиванием слизистой оболочки и продолжают накладывать непрерывный шов спереди-назад в обратном направлении, подхватывая в первой порции шва адвентицию мочевого пузыря и паравезикальную клетчатку. Во второй части шва подхватывают все слои стенки, формируя второй ряд швов до первой инициальной точки вкола, нити связывают между собой, сформированный узел располагают дистальнее и кзади от зоны формирования везико-уретрального анастомоза. Способ снижает риск развития несостоятельности анастомоза и его стриктуры за счет более анатомичного сопоставления слизистой оболочки уретры и мочевого пузыря. 1 пр., 18 ил.
Изобретение относится к физико-химическим исследованиям и может быть использовано в химической и других родственных с ней отраслях промышленности для определения удельной электропроводности ионпроводящих материалов, в том числе полимерных пленок и тканей. Предложен способ определения удельной электропроводности ионпроводящих материалов в условиях различных сред либо в условиях различной относительной влажности с учетом вклада контактного сопротивления на границе образец/электрод. Для реализации способа образец помещают в ячейку с электродами в количестве 6÷8 единиц, измеряют четырехконтактным методом не менее трех значений сопротивления образца между электродами, расположенными на разном расстоянии друг от друга. Затем строят график зависимости ионного сопротивления (R) образца от расстояния между электродами (L) и находят тангенс угла наклона (tgα) графика зависимости и определяют удельную электропроводность (σ) по формуле:
,где Sсеч - площадь сечения образца. Изобретение позволяет повысить достоверность определения электропроводности за счет учета вклада контактного сопротивления на границе образец/электрод и использования четырехконтактного метода определения электропроводности. 2 ил., 1 табл.
