Патенты автора Рамазанова Алина Гамзатовна (RU)

Устройство предназначено для регистрации пространственного распределения фазовой задержки, вносимой оптически прозрачным микрообъектом, и измерению его характеристик. Устройство состоит из оптически связанных и расположенных последовательно первого оптического компонента, фокусирующего излучение, несущее изображение объекта, пространственного фильтра, второго оптического компонента, формирующего коллимированные объектный и опорный пучок, и матричного приемника излучения. Первый компонент состоит из двух линзовых элементов, меньший из которых располагается в отверстии, выполненном в большем элементе на расстоянии от его центра, превышающем диаметр отверстия, и в таком положении, что их задние фокальные плоскости совмещены. Второй компонент расположен на оптической оси меньшего из линзовых элементов в области перекрытия пучков, а его передняя фокальная плоскость совмещена с задней фокальной плоскостью указанного линзового элемента. Технический результат - выравнивание интенсивности в опорном и объектном каналах, повышение спектрального разрешения, упрощение конструкции и юстировки устройства. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение относится к технологиям количественной фазовой микроскопии и предназначено для измерения пространственного распределения фазовой задержки, вносимой прозрачным микрообъектом, в произвольных узких спектральных интервалах. Способ заключается в том, что прошедшее через микрообъект коллимированное широкополосное оптическое излучение фильтруется и поляризуется с помощью перестраиваемого монохроматора и поляризатора, и затем делится на два идентичных пучка, которые сводятся под углом и направляются на вход 4f-системы, в которой в плоскости промежуточного изображения осуществляется пространственная фильтрация одного из них с выделением в нем узконаправленного излучения в виде плоской волны, далее регистрируется картина их интерференции матричным приемником излучения. Процедура повторяется для всех требуемых спектральных компонент. Технический результат – возможность получения изображений фазовых микрообъектов в произвольных узких спектральных интервалах, упрощение конструкции, уменьшение габаритов. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

 


Наверх