Патенты автора Демин Сергей Александрович (RU)

Изобретение относится к способам изготовления высокочастотных кристаллических элементов пьезоэлектрических приборов. Технический результат предложенного изобретения заключается в упрощении технологического процесса изготовления и уменьшение разброса по толщине. Осуществляют механическую обработку, химическую очистку и жидкостное химическое полирование. При этом операция химического полирования кристаллических пластин и/или кристаллических элементов проводится в статическом режиме при нормальной температуре и со скоростью травления не более 0,008 мкм/мин на этапе снятия нарушенного слоя.
Изобретение относится к моющему средству и может быть использовано в качестве универсального средства в области приборостроения для отмывки изделий от флюсов, механических, масляных, жировых загрязнений, клейких веществ и абразивов. В состав моющего средства входит силикат щелочного металла, в качестве которого используют силикаты натрия, калия или лития, бензиловый спирт и вода в следующем соотношении, мас. %: щелочной силикат - 0,1-2, бензиловый спирт – 1,5-3,5, вода - остальное до 100. В результате взаимодействия силиката одного из щелочных металлов (натрия, калия, лития), являющегося диспергатором прочносвязанных загрязнений, бензилового спирта, обладающего свойствами солюбилизатора, и воды образуется микроэмульсия, обеспечивающая взаимодействие с загрязнениями и их удаление с очищаемой поверхности. Технический результат - моющее средство с минимальным количеством компонентов способно удалять широкий спектр загрязнений, отвечает современным требованиям экологической и производственной безопасности, экономично в использовании, имеет низкую себестоимость. 6 пр.

Изобретение относится к контрольно-диагностическим технологиям, может быть использовано для обнаружения и исследования дефектов материала, определения его размеров и идентификации его по химическому составу и дает возможность проводить работы на любых поверхностях, например, интерьеров и экстерьеров музейных комплексов. Способ определения дефектов материала заключается в предварительном визуальном определении участка поверхности материала с дефектом путем наведения камеры тепловизора на исследуемый участок поверхности и измерении температурного поля на поверхности материала по шкале тепловизора для выявления наличия температурных пиков на поверхности материала. При этом исследуемый материал облучают электромагнитным излучением на длине волны в области характеристической полосы поглощения материала дефекта, идентифицирующей химический состав вещества дефекта. По наличию контрастных участков в поле тепловизора определяют наличие дефектов, их химический состав и координаты местоположения. Технический результат - повышение информативности результатов исследований. 3 ил.

 


Наверх