Патенты автора Шалобаев Евгений Васильевич (RU)

Изобретение относится к контрольно-диагностическим технологиям, может быть использовано для обнаружения и исследования дефектов материала, определения его размеров и идентификации его по химическому составу и дает возможность проводить работы на любых поверхностях, например, интерьеров и экстерьеров музейных комплексов. Способ определения дефектов материала заключается в предварительном визуальном определении участка поверхности материала с дефектом путем наведения камеры тепловизора на исследуемый участок поверхности и измерении температурного поля на поверхности материала по шкале тепловизора для выявления наличия температурных пиков на поверхности материала. При этом исследуемый материал облучают электромагнитным излучением на длине волны в области характеристической полосы поглощения материала дефекта, идентифицирующей химический состав вещества дефекта. По наличию контрастных участков в поле тепловизора определяют наличие дефектов, их химический состав и координаты местоположения. Технический результат - повышение информативности результатов исследований. 3 ил.

 


Наверх