Патенты автора АГАРВАЛ Навин (US)
Изобретение относится к области для измерения физических свойств контактных линз. В заявленном устройстве для измерения волнового фронта офтальмологического устройства и способе, реализующем заявленное устройство, производят выравнивание системы волнового фронта офтальмологической линзы, содержащей устройство для измерения физической характеристики офтальмологического устройства, выполняют оптическое измерение оптической оправки и хранение этого измерения интенсивности оптической оправки в качестве справочного файла интенсивности. Далее выполняют оптическое измерение оптической оправки с линзой, которая сформирована на ней, и сохранение файла этой интенсивности, используя программное обеспечение в процессоре, способном вычитать один файл интенсивности из, по меньшей мере, одного другого файла интенсивности для получения значения оптического волнового фронта линзы в режиме реального времени. Технический результат – повышение скорости получения точных измерений сухих контактных линз разовыми оптическими измерениями в режиме реального времени. 2 н. и 21 з.п. ф-лы, 8 ил.
