Патенты автора Бондарев Александр Дмитриевич (RU)
Способ изготовления полупроводниковых лазеров содержит этапы, на которых расщепляют лазерную гетероструктуру на линейки полупроводниковых лазеров во внешней атмосфере, обеспечивая грани резонатора, напыляют на внутреннюю поверхность рабочей вакуумной камеры слой алюминия толщиной не менее 50 нм, помещают, по меньшей мере, одну линейку или кристалл полупроводникового лазера в вакуумную камеру с остаточным давлением по кислороду не более 2⋅10-10 Торр, где грани резонатора сначала протравливают ионами плазмы аргона со скоростью не более 2 нм/мин на глубину не менее 3 нм. Затем на гранях резонатора создают пассивирующий нитридный слой AlN со скоростью (12,0-12,5) нм/мин и толщиной не менее 5 нм распылением алюминиевой мишени с использованием плазмы, содержащей азот, при нулевом потенциале на образцах полупроводниковых лазеров. Наносят отражающее и просветляющее покрытия на грани резонатора поверх пассивирующего нитридного слоя AlN. Способ обеспечивает увеличение оптической прочности выходных зеркал и выходной оптической мощности, увеличение срока службы полупроводниковых лазеров. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.
Способ получения нанопрофилированной ультратонкой пленки Al2O3 на поверхности пористого кремния // 2634326
Использование: для роста наноразмерных пленок диэлектриков на поверхности монокристаллических полупроводников. Сущность изобретения заключается в том, что пленку Al2O3 наносят ионно-плазменным распылением на слой пористого кремния с размером пор менее 3 нм, полученного электрохимическим травлением исходной пластины монокристаллического кремния, при рабочем давлении в камере в диапазоне 3-5⋅10-3 мм рт.ст. и потенциале мишени - 400-600 В. Технический результат: обеспечение возможности создания эффективного способа изготовления нанопрофилированной ультратонкой пленки диоксида алюминия на поверхности пористого кремния. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
