Патенты автора ОРТЛЕР Георг (DE)
Изобретение относится к способу и устройству для определения параметров матрицы рассеяния испытуемого устройства преобразования частоты. Устройство для определения параметров матрицы рассеяния испытуемого устройства преобразования частоты с использованием схемного анализатора определяет системные ошибки, возникающие между отдельными портами (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты и портами (4, 5) схемного анализатора (6), соединенными с портами (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты, и измеряет входные и выходные сигналы, имеющие системную ошибку соответственно в отдельных портах (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты. После этого входные и выходные сигналы со скорректированной системной ошибкой соответственно в отдельных портах (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты определены посредством взвешивания входных и выходных сигналов с системной ошибкой соответственно в отдельных портах (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты с соответствующими вычисленными системными ошибками, а параметры матрицы рассеяния испытуемого устройства (3) преобразования частоты определены по входным и выходным сигналам со скорректированной системной ошибкой соответственно в отдельных портах (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты. Фаза подлежащего измерению сигнала, возбуждающая соответственно порт (1, 2) испытуемого устройства (3) преобразования частоты, инициализирована одинаковым образом при каждом измерении. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 2 н. и 18 з.п. ф-лы, 5 ил.
