Патенты автора РЕГОЛИ Фабио (IT)
Способ включает получение модели шины; получение предварительных изображений шины; получение из них значения для регулирования, которое отображает геометрическую характеристику шины; вычисление его отклонения от соответствующего эталонного значения указанной модели; регулирование установочных параметров, соответствующих модели шины, на основе вычисленного отклонения, и контроль шины для поиска дефектов посредством получения изображений части поверхности шины при использовании устройств получения изображений, установленных в соответствии с установочными параметрами, отрегулированными таким образом. Технический результат - возможность автоматического и оптимального регулирования установочных параметров устройств получения изображенийдля для контроля шин, соответствующих одной и той же модели, с учетом неизбежной изменчивости их геометрических характеристик. 2 н. и 30 з.п. ф-лы, 10 ил.
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ КОНТРОЛЯ ШИН // 2728848
Изобретение относится к устройству и способу контроля шин на линии по производству шин, в частности, посредством получения изображений внутренней поверхности шины и их дальнейшей обработки, например, для определения возможного наличия обнаруживаемых дефектов на поверхности шины. Техническим результатом является получение и анализ трехмерных изображений внутренней поверхности шины для контроля внутренней поверхности шины для обнаружения возможного наличия дефектов на или вблизи поверхности. Устройство (1) для контроля шин содержит опорную раму (2), фланец (3) и систему (4) получения трехмерных изображений поверхности шины, смонтированную на опорной раме и содержащую: матричную камеру (5), линейный лазерный источник (7) и отражающую поверхность (12), которая пересекает ось (9) распространения линейного лазерного пучка и оптическую ось (6) матричной камеры (5). 3 н. и 33 з.п. ф-лы, 7 ил.
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ АНАЛИЗА ШИН // 2726725
Предложены устройство (1) для анализа шин и соответствующий способ, при этом устройство содержит опорную раму (2) и систему (11) получения изображений, предназначенную для получения трехмерных изображений поверхности шины, при этом указанная система получения изображений смонтирована на указанной опорной раме и содержит: матричную камеру (12), имеющую оптическую ось (16), и лазерный источник (20), выполненный с возможностью излучения линейного пучка, имеющего плоскость (21) распространения и ось (23) распространения, при этом острый угол (24), образованный между указанной оптической осью и указанной осью распространения, больше или равен 5° и меньше или равен 25°. Уменьшение триангуляционного угла обеспечивает уменьшение габаритных размеров устройства, которое должно быстро перемещаться вокруг и внутри шины и, возможно, одновременно с другим устройством, перемещающимся в пространстве вокруг самой шины. 3 н. и 17 з.п. ф-лы, 6 ил.
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ АНАЛИЗА ШИН // 2721050
Изобретение относится к автомобильной промышленности. Устройство содержит: опорную раму (2), фланец (3), первую систему (4) получения изображений, предпочтительно двумерных, содержащую первую камеру (5), имеющую первую оптическую ось (6), первую фокальную плоскость (7), первую фокальную точку (F1) и первую глубину резкости, и первую осветительную систему (10), выполненную с возможностью освещения окрестности первой фокальной точки (F1); вторую систему (11) получения изображений, предпочтительно трехмерных, содержащую вторую камеру (12), имеющую вторую оптическую ось (16), вторую фокальную плоскость (17) и вторую глубину резкости, и вторую осветительную систему (13), при этом имеется, по меньшей мере, одна плоскость (22) поступательного перемещения, проходящая через первую фокальную точку (F1) и по существу ортогональная к первой оптической оси (6) и также проходящая через зону (23а) пересечения между второй оптической осью и второй глубиной резкости. Технический результат – повышение качества контроля шин. 3 н. и 20 з.п. ф-лы, 13 ил.
Изобретение относится к вычислительной технике. Технический результат заключается в обеспечении возможности анализа поверхности шины. Такой результат достигается тем, что получают один или более цифровых изображений участка поверхности, имеющего рисунок, который содержит схему, которая повторяется по существу одинаковым образом множество раз, идентифицируют множество первых зон указанных одного или более цифровых изображений, каждая из которых соответствует соответствующей подчасти схемы, идентифицируют соответствующее множество зон, гомологичных каждой первой зоне, при этом соответствующая подчасть схемы по существу идентична соответствующей подчасти схемы в каждой первой зоне, рассчитывают модель соответствующей подчасти схемы, в которой каждому пикселю соответствует среднее значение из значений, поставленных в соответствие пикселям каждой первой зоны и соответствующих гомологичных зон, имеющим одинаковые относительные координаты указанного каждого пикселя, получают модель рисунка посредством использования расчетных моделей подчастей схемы. 2 н. и 25 з.п. ф-лы, 16 ил.
Изобретение относится к способу для контроля качества шины (1) для колес транспортных средств и шине (1) для колес транспортных средств, имеющей маркировку на по меньшей мере одной боковине (2). Маркировка содержит отметку (5) с первой линией (53) и со второй радиальной линией (51), сконфигурированной для использования в качестве точки отсчета для определения положения производственных дефектов, идентифицированных в шине (1) в ходе контроля качества. Способ контроля качества включает размещение точки отсчета путем идентификации отметки (5) маркировки, выявления первой линии (53) и второй радиальной линии (51) и путем размещения точки отсчета на второй радиальной линии (51); проверку шины (1) для поиска производственных дефектов и определение положения каждого производственного дефекта относительно размещенной точки отсчета. Технический результат – облегчение и повышение надежности автоматического контроля качества шин. 3 н. и 24 з.п. ф-лы, 11 ил.
Предусмотрено определение того, изготовлена ли шина (2) в соответствии с известной моделью из множества известных моделей. Если шина (2) изготовлена в соответствии с известной моделью, шину (2) контролируют для поиска каких-либо производственных дефектов путем получения данных, характеризующих, по меньшей мере, часть поверхности шины (2), посредством комплекта устройств (282) получения изображений, установленных в соответствии с установочными параметрами, соответствующими известной модели шины. Если шина (2) изготовлена в соответствии с неизвестной моделью, последовательно выполняют следующие этапы: - получение первого профиля (300) шины (2); - определение установочных параметров для устройств (278) для получения второго профиля на основе полученного первого профиля (300); - получение второго профиля (400) шины (2); - определение установочных параметров для указанного комплекта устройств (282) получения изображений на основе полученного второго профиля (400); - каталогизацию указанной неизвестной модели как известной модели и добавление ее к указанному множеству известных моделей. Технический результат - возможность автоматического определения оптимальных установочных параметров для устройств получения изображений, подлежащих использованию для контроля шин, с учетом их конкретного профиля. 2 н. и 38 з.п. ф-лы, 8 ил.
Изобретение относится к автомобильной промышленности. Способ и соответствующее устройство обнаружения дефектов на поверхности шины предусматривает: выполнение шины (200); получение цифрового изображения, содержащего структуру, содержащую части, отображающие линейные элементы рисунка на участке поверхности и отображающие возможные удлиненные дефекты, при этом указанные части структуры имеют соответствующую ориентацию; выполнение модели рисунка на участке поверхности, в которой каждому пикселю поставлены в соответствие первый индекс, характеризующий то, принадлежит ли пиксель части рисунка или нет, и второй индекс, характеризующий, по меньшей мере, локальную ориентацию части рисунка, проходящей через указанный пиксель; вычисление - для каждого пикселя из структуры - третьего индекса, характеризующего ориентацию части структуры, проходящей через указанный пиксель, и установление - для каждого пикселя из структуры, имеющего соответствующий пиксель в модели рисунка, принадлежащий рисунку, - того, принадлежит ли указанный пиксель из структуры предполагаемому дефекту на основе сравнения третьего индекса и второго индекса, поставленного в соответствие соответствующему пикселю в модели рисунка. Технический результат - выполнение контроля шины за меньшее время и со сниженными затратами. 2 н. и 13 з.п. ф-лы, 15 ил.
Изобретение относится к автомобильной промышленности. Способ содержит прием (202) эталонного изображения (Iref) участка поверхности эталонной шины, по существу бездефектной, обеспечение (203) образцовой шины, подлежащей анализу, освещение (204) участка поверхности образцовой шины наклонным источником света, приобретение (205) образцового изображения (Icmp) освещаемого участка поверхности образцовой шины, извлечение (207) краев из эталонного изображения и из образцового изображения и, соответственно, генерирование краевого эталонного изображения (Iref_edg), содержащего края, включенные в эталонное изображение, и краевого образцового изображения (Icmp_edg), содержащего края, включенные в образцовое изображение, выполнение расширения (208) краев краевого эталонного изображения (Iref_edg) и генерирование из него расширенного краевого эталонного изображения (Iref_edg_dl), сравнение (209) краевого образцового изображения (Icmp_edg) с расширенным краевым эталонным изображением (Iref_edg_dl) и генерирование краевого изображения (Iedg_pd) возможных дефектов, содержащего края, которые включены в краевое образцовое изображение и не включены в расширенное краевое эталонное изображение, и содержит идентификацию как возможных дефектов краев, включенных в краевое изображение возможных дефектов. Технический результат – повышение надежности контроля шин. 4 н. и 11 з.п. ф-лы, 6 ил.
