Патенты автора Кулаченков Никита Константинович (RU)
Оптический модулятор // 2773871
Изобретение может быть использовано в нелинейной, интегральной и волоконной оптике. Оптический модулятор света содержит источник света, лазер, расширительные коллиматоры пучков их излучений, установленные на пути распространения последних к выполненному в виде нанесенной на оптически прозрачную подложку пленки активному элементу с функцией исключения пропускания излучения от источника света при попадании на него при работе устройства направленного через светоделительный куб излучения лазера, а также фильтр. Источником света является источник излучения в диапазоне длин волн 520-610 нм. Лазер является источником инфракрасного излучения, пленка активного элемента выполнена из металл-органического каркаса Cu3(1,3,5-(CO2H2)3С6Н3)2(H2O)3 толщиной около 100 нм и нанесена на оптически прозрачную подложку из диоксида кремния методом послойного осаждения. Фильтр расположен на выходе устройства с возможностью пропускания излучения источника света. Технический результат - повышение быстродействия устройства. 1 ил.
Изобретение относится к области прецизионного манипулирования и может быть использовано для переноса слоев атомарно тонких материалов, таких как графен, на планарные подложки любого типа с достаточной адгезией, в том числе для создания Ван-дер-Ваальсовых гетероструктур и гибридных устройств на их основе. Устройство для переноса слоев 22 атомарно тонких материалов на планарные подложки 21, содержащее трехосный манипулятор 6 с держателем 8 и подвижный столик 4, которые установлены с возможностью перемещения друг относительно друга и интегрированы с оптическим инвертированным микроскопом 3 с апертурой объектива не менее 0,9, при этом манипулятор 6 и объектив 12 микроскопа 3 расположены по разные стороны от столика 4, манипулятор 6 обладает тремя поступательными и тремя вращательными степенями свободы с центром вращения, находящимся в центре держателя 8, держатель 8 снабжен нагревательным элементом, и его диаметр составляет не менее 3 см, а микроскоп 3 снабжен высокоточной системой для измерения расстояния и угла между держателем 8 и столиком 4 в виде интерферометра Майкельсоновского типа. Способ переноса слоев 22 атомарно тонких материалов на планарные подложки 21 заключается в том, что слой 22, нанесенный на прозрачную пластину 24, и подложку 21 прецизионно взаимно позиционируют в горизонтальном направлении, а затем приводят в контакт посредством вертикального сближения, после чего слой 22 и подложку 21 разъединяют, при этом процесс позиционирования и приведения в контакт визуализируют с помощью объектива 12 микроскопа 3, подложку 21 закрепляют на держателе 8 и нагревают, а пластину 24 с нанесенным слоем 22 устанавливают на неподвижный столик 4 инвертированного микроскопа 3 с числовой апертурой объектива не менее 0,9, позиционирование осуществляют путем интерферометрического измерения расстояния между слоем 22 и подложкой 21 и вычисления и корректировки угла между ними посредством поворота держателя 8 с подложкой 21 относительно пластины 24 со слоем 22 за счет вращательных степеней свобод манипулятора 6 до формирования интерференционной картины, соответствующей строгой параллельности плоскостей подложки 21 и прозрачной пластины 24, а контактирование осуществляют перемещением вниз разогретой и полностью позиционированной в трех направлениях на держателе 8 подложки 21. Изобретение позволяет переносить слои атомарно тонких материалов площадью до 300 см2 на планарные подложки с точностью не хуже 500 нм и при этом контролировать направление и скорость движения фронта переноса, что критично для наноструктурированных подложек с нетривиальной топографией. 2 н.п. ф-лы, 5 ил.
Способ измерения компонент магнитного поля // 2737726
Изобретение относится к измерительной технике квантовых магнитометров. Способ измерения компонент магнитного поля основан на измерении компонент магнитного поля по сигналу поглощения, наблюдаемому в оптически ориентированных атомах при приложении переменного радиочастотного поля и постоянного магнитного поля, создаваемого тремя парами ориентированных перпендикулярно друг к другу компенсационных катушек, ось каждой из которых расположена вдоль одноименной оси координат, в которых предусмотрена инверсия направления постоянного тока. Технический результат – повышение точности измерений остаточного магнитного поля. 3 ил.
Устройство для измерений мгновенных угловых перемещений качающейся платформы состоит из датчика измеряемого мгновенного плоского угла и неподвижного отсчетного устройства. Датчик угла выполнен в виде многозначных голографических мер угла, формирующих каждая под воздействием внешнего оптического излучения стабильный плоский веер дифрагированных лучей с известными углами между лучами. Отсчетное устройство выполнено на основе ПЗС-линеек, снабжено шкалой времени и подключено к внешнему компьютеру. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 3 табл., 2 ил.
