Патенты автора Иванов Алексей Дмитриевич (RU)
Изобретение относится к области антенной техники и предназначено для одновременного формирования электромагнитных волн с различными ненулевыми орбитальными угловыми моментами на одной несущей частоте. Технический результат - повышение эффективности использования спектра частот и скорости передачи данных. Для этого устройство содержит сегнетоэлектрическую пластину с радиопрозрачным покрытием двух противоположных сторон, накрытых пластинами из линейного диэлектрика на рабочей частоте с учетом диэлектрической постоянной материала диэлектрика. На первой стороне сегнетоэлектрической пластины радиопрозрачное покрытие разделено на отдельные гальванически развязанные электроды с помощью зазоров, выполненных в форме линий в количестве не менее двух, исходящих из одного центра с одинаковыми углами между соседними линиями, а также концентрических окружностей в количестве не менее двух с центром, совпадающим с точкой пересечения упомянутых линий. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для трехмерного анализа показателя преломления материала с помощью оптических средств на основе интерферометрии, и может быть использовано для томографического контроля образцов оптических изделий: оптических волокон и их заготовок, градиентных линз, различных изделий оптики и микроэлектроники в том числе полученных методом аддитивных технологий из полимерных и прочих прозрачных материалов. Устройство измерения распределения показателя преломления прозрачных образцов содержит источник когерентного освещения, интерферометр Маха-Цендера, систему регистрации и блок установки тестового образца. Интерферометр снабжен входным фазосдвигающим блоком и светоделителем, формирующим опорный и измерительный каналы. Блок установки тестового образца расположен в измерительном канале и содержит кювету с иммерсионной жидкостью и поворотным устройством. Устройство также снабжено аналогичным блоком установки эталонного образца, расположенным в опорном канале и содержащим кювету с иммерсионной жидкостью и поворотным устройством. Изобретение позволяет увеличить точность и диапазон измерений. 3 з.п. ф-лы, 3 ил.
Сдвиговый спекл-интерферометр (варианты) // 2726045
Изобретение относится к области оптико-электронных измерений, а именно к сдвиговой спекл-интерферометрии, и может быть использовано для обнаружения и измерения параметров дефектов различных диффузно-отражающих объектов. Заявленный сдвиговый спекл-интерферометр содержит камеру регистрации, источник лазерного излучения и фокусирующий элемент в виде квадролинзы с диафрагмой. Диафрагма выполнена в виде непрозрачного экрана с четырьмя нецентральными отверстиями, зеркально расположенными относительно двух перпендикулярных осей симметрии, пересекающихся в центре экрана на оптической оси интерферометра. Квадролинза может быть образована четырьмя одинаковыми секторами исходной круглой линзы, разнесенными друг от друга с образованием равномерных зазоров, параллельных указанным осям симметрии. В другом варианте квадролинза образована путем совмещения четырех одинаковых секторов, оставшихся после удаления из исходной круглой линзы диаметральных участков, параллельных указанным осям симметрии. Технический результат - повышение точности проводимых измерений. 2 н. и 4 з.п. ф-лы, 1 табл., 6 ил.
Изобретение относится к установкам для производства оптических микрорезонаторов. Техническим результатом является повышение качества микрорезонаторов. Установка для производства оптических микрорезонаторов содержит механическую подвижку с держателем заготовки оптического волокна и устройство нагрева ее свободного конца. Устройство нагрева выполнено в виде газовой горелки, снабженной по меньшей мере двумя соплами. Указанные сопла направлены под острым углом к оси установленной в держателе заготовки в сторону ее свободного конца. 6 з.п. ф-лы, 4 ил.
Изобретение относится к области оптико-электронных измерительных приборов и предназначено для получения информации о двумерном распределении высот микрорельефа поверхностей, которые применяются в оптическом приборостроении, микроэлектронике и материаловедении. Установка для измерения микрорельефа поверхности с использованием метода фазовых шагов содержит виброзащитную опору, предметный столик, осветитель с коллиматором, цифровую видеокамеру и интерференционный микроскоп, выполненный по схеме Линника. Устройство снабжено сменными микрообъективами. Предметный столик выполнен подвижным и расположен под микрообъективом объектного канала. Осветитель выполнен в виде точечного низкокогерентного светодиода. Опорное зеркало референтного канала выполнено на базе моноатомного слоя кремния. Опорное зеркало жестко связано с микрообъективом референтного канала в едином блоке, который перемещается посредством пьезопривода с обратной связью. Настройка микроскопа производится по базовой плоскости. Технический результат – возможность получения значения высоты профиля и шероховатости профиля в субнанометровом диапазоне с большей точностью, а также расширение диапазона измерений и повышение стабильности показаний при длительных измерениях. 4 ил.
Установка для вытяжения оптоволокна // 2645040
Изобретение относится к установке для вытяжения оптоволокна. Техническим результатом является уменьшение количества брака. Установка для вытяжения оптоволокна, содержащая общее основание, на котором установлены две подвижные опоры с зажимами для фиксации вытягиваемого участка оптоволокна, расположенную между ними газовую горелку с системой позиционирования и датчиком температуры, а также систему контроля вытяжения. Зажим по меньшей мере одной из опор консольно установлен на тензометрическом датчике, жестко закрепленном на этой опоре и обеспечивающем возможность измерения натяжения оптоволокна. Система контроля вытяжения содержит блок управления, соединенный с подвижными опорами и тензометрическим датчиком. 1 ил.
